物理实验思考题2.pdfVIP

一．等倾干涉的特征：

如右图所示，一个单色点光源S所发射的电磁波入射到一块透明的平行平面板上。在平行

平面板的上表面发生反射和折射，而折射光其后又被下表面反射，反射光再被上表面折射到

原先介质中。这条折射光必然会与另一条直接被上表面反射的反射光重合于空间中某一点，

由于它们都是同一波源发出的电磁波的一部分，因此是相干光，这时会形成非定域的干涉条

纹。若光源为扩展光源，一般而言干涉条纹的可见度会下降，但若考虑两条反射光平行的情

形，即重合点在无限远处，此时会形成定域的等倾干涉条纹[10]。根据几何关系，两束光的

光程差可以表示为

其中是平行平面板的折射率，是周围介质的折射率。具体长度可以表示为

，

其中是平行平面板的厚度，是入射角，是折射角，两者满足折射定律。

这样得到的光程差为，对应的相位差为，另外

考虑到发生于上表面或下表面的反射相变，相位差应为

。

根据干涉相长和相消的条件，当，m是整数时有亮条纹，而当

m是半整数时有暗条纹。

由此，每一条条纹都对应一个特定的折射角/入射角，从而被称作等倾干涉。如果观测方向

垂直于平行平面板，则可以观察到一组同心圆的干涉条纹。此外，从平行平面板下表面透

射的两束平行光也会形成等倾干涉，但由于不存在反射相变，相位差不需要添加项，从

而导致透射光的干涉条纹的明暗位置与反射光完全相反。

二．例举5~10种其他的干涉仪及其用途。

（1）斐索干涉仪

简介：斐索干涉仪原理为等厚干涉，用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以

及光学材料均匀性等的一种精密仪器。其测量精度一般为/10～/100,为检测用光源的平均波

长。常用的波面干涉仪为泰曼干涉仪和斐索干涉仪。斐索干涉仪有平面的和球面的两种，前

者由分束器、准直物镜和标准平面所组成，后者由分束器、有限共轭距物镜和标准球面所组

成。单色光束在标准平面或标准球面上，部分反射为参考光束；部分透射并通过被测件的，

为检测光束。检测光束自准返回，与参考光束重合，形成等厚干涉条纹。

用途：用斐索平面干涉仪可以检测平板或棱镜的表面面形及其均匀性。用斐索球面干涉

仪可以检测球面面形和其曲率半径，后者的测量精度约1微米；也可以检测无限、有限共轭

距镜头的波面像差。

（2）马赫曾德尔干涉仪

简介：马赫-曾德尔干涉仪的基本光路图

迈克耳孙干涉仪中，分束器也被用来使两束相干光重新会合发生干涉，而倘若采用一块

独立的半透半反镜来使两束光重新会合，则可构造成马赫-曾德尔干涉仪[。它是由德国物理

学家路德维希·马赫（恩斯特·马赫之子）和路德维希·曾德尔于十九世纪末设计的，其基

本光路如左图所示：光源位于透镜的焦平面上，从透镜出射的平行光入射到第一面半透半反

镜上分为两束，各自经一面平面镜反射后在完全相同的第二面半透半反镜重新会合，之后在

两个方向上的光检测器都能发生干涉。通常，干涉仪中四个反射面需要被尽量设置为严格平

行，并且四个反射点构成一个平行四边形以保证准直。由此，两列干涉臂的长度差异高度影

响着两个方向上的光检测器所接收到的干涉信号，任何一个微小的光程差变化都会导致入射

光能量的重新分配。当两列干涉臂的光程完全相等，并考虑光波在半透半反镜和平面镜上反

射产生的多次半波损失，则可知此时两列相干光在光检测器1的光路上有相长干涉，所有入

射光的能量都将进入光检测器1；而在光检测器2的光路上有相消干涉，没有入射光能量进

入光检测器2。

在实际操作中，若其中一块半透半反镜和平面镜之间稍有倾斜，则会形成类似迈克耳孙

干涉仪的劈尖干涉，即得到定域的平行等距直条纹。通过测量光程差改变引起的光检测器所

接收到的光强变化。

用途：马赫-曾德尔干涉仪经常用于测量可压缩气流中折射率的变化。即对于两条相干

光路，其中一条作为参考光路，另一条置于待测气流中作为测试光路，从而可测得气流的折

射率改变，进一步即可得到待测气流的密度改变。

（３）瑞利干涉仪

1896年瑞利为了测量惰性气体氩和氦的折射率，利用杨氏双缝干涉原理设计制作了一种专用

干涉仪，称为瑞利干涉仪。

瑞利干涉仪是一种利用双光束干涉原理的高精度测量仪器，结构简单，使用方便，其光学原

理如图。l样品池及p1、p2补偿器的高度仅占整个空间的上半部