高电压技术电气设备绝缘预防性试验.pptVIP

第三节介质损耗角正切的测量测量tg?用的西林电桥西林电桥的组成高压臂试品(Cx、Rx）以Z1表示无损耗的标准电容CN，以阻抗Z2表示低压臂可调无感电阻R3，以Z3来表示无感电阻R4和可调电容C4的并联，以Z4来表示电桥平衡：检流计P检零；检流计保护：放电管V；UVCNCxVR3R4C4DCI2I1RxABPI1I2Z1Z2Z3Z4**交流电压U的作用下，调节R3和C4，使电桥达到平衡，即A、B两点间无电位差，P的电流为零，则有：第三节介质损耗角正切的测量西林电桥的工作原理UVCNCxVR3R4C4DCI2I1RxABPI1I2Z1Z2Z3Z4**UVCNCxVR3R4C4DCI2I1RxABPI1I2Z1Z2Z3Z4第三节介质损耗角正切的测量由于ICA＝IAD＝I1，ICB＝IBD＝I2，所以各桥臂电压之比等于的桥臂阻抗之比：其中**第三节介质损耗角正切的测量UVCNCxVR3R4C4DCI2I1RxABPI1I2Z1Z2Z3Z4把Z1、Z2、Z3、Z4的值，代入式Z1Z4＝Z2Z3，可得试品的等值电容和等值电阻：实部相等虚部相等**第三节介质损耗角正切的测量UVCNCxVR3R4C4DCI2I1RxABPI1I2Z1Z2Z3Z4由Rx、Cx的值，可得介质并联等值电路的介质损耗角正切介质串联等值电路的介质损耗角正切结果一样注意tgδ可简化计算：试品电容简化计算：**第三节介质损耗角正切的测量tg?测量的影响因素外界电磁场的干扰影响干扰源：高压电源和试验现场高压带电体引起的电场干扰。现场测试条件下，电桥处于一个相当显著的交变磁场中，这时电桥接线内也会感应出一个干扰电势，对电桥的平衡产生影响，也将导致测量误差。消除干扰的方法：金属屏蔽网和屏蔽电缆。使杂散电容不流过桥臂。UVCNCxVR3R4C4DCI2I1RxABPI1I2Z1Z2Z3Z4屏蔽网**第三节介质损耗角正切的测量温度的影响tg?随温度的增高而增大。为了便于比较，应将在各种温度下测得的值换算到20℃时的值。试品电容量的影响对于电容量较小的试品：测量tg?能有效的发现局部集中性缺陷和整体分布性缺陷。对电容量较大的试品（例如大中型发电机、变压器、电力电缆、电力电容器等）：测量只能发现整体分布性缺陷。此时要把它分解成几个彼此绝缘部分的被试品，分别测量各部分的tg?值，能有效的发现缺陷。**第三节介质损耗角正切的测量试验电压的影响良好的绝缘，加额定电压范围内，绝缘的tg?值几乎不变若绝缘中存在气泡、或绝缘受潮当所加试检电压尚不足以使绝缘中的气泡或气隙电离时，其tg?值与良好绝缘无显著差别;当所加试验电压足以使绝缘中的气泡电离或足以使绝缘产生电晕或局部放电等情况时，tg?的值将随试验电压的升高而迅速增大。注意：测定tg?所用的电压，最好接近于被试品的正常工作电压。加电压过低，不易发现绝缘中的缺陷；加电压过高，容易对绝缘造成不必要的损伤.**第三节介质损耗角正切的测量试品表面泄漏电流的影响由于试品表面泄漏电阻总是与试品等值电阻Rx相并联，所以会影响tg?值。为了排除或减小这种影响，在测试前应清除绝缘表面的积污和水分，必要时还可以在绝缘表面上装设屏蔽极。返回**第四节局部放电的测量局部放电的概述局部放电的概念局部放电——指由于电气设备内部绝缘里面存在的弱点，在一定外施电压下发生的局部的重复击穿和熄灭现象局部放电的危害局部放电发生在绝缘内部的气隙或气泡之中，在这个很小的空间内电场强度很大。它的放电能量很小，所以它的存在并不影响电气设备的短时绝缘强度。但如一个电气设备在运行电压下长期存在局部放电现象，这些微弱的放电能量和由此产生的一些不良效应，就可以慢慢地损坏绝缘，日积月累，最后可导致整个绝缘被击穿，发生电气设备的突发性故障**第四节局部放电的测量介质内部发生局部放电时，会发生许多现象。有些属于电的：如电脉冲的产生，介质损耗的增大和电磁波放射；有些属于非电的：如光、热、噪音、气体压力的变化和化学变化局部放电的特点这些现象都可以用来判断局部放电是否存在，因此检测的方法也可以分为电的和非电的两类局部放电的检测**第四节