智慧树答案材料分析测试技术知到课后答案章节测试2022年 .pdfVIP

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  • 2025-04-20 发布于山东
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智慧树答案材料分析测试技术知到课后答案章节测试2022年 .pdf

第一章

1.X射线特征谱的产生机理与()有关。答案:X射线管的阳极靶材的原子结

2.倒易矢量的长度与正点阵中同名晶面的晶面间距()答案:成倒数

3.粉末多晶样品中,不同晶面指数的倒易点分布在()半径的倒易球上。答

案:不同

4.在体心点阵中,当(HKL)晶面的H+K+L为奇数时,产生系统消光。()

答案:对

5.关于X射线衍射仪的测量动作,说法正确的是()。答案:样品台和计数管

可以分别绕O轴转动,也可机械连动。;机械连动时,样品台转过θ角时,

计数管转2θ角。

6.X射线衍射仪中,通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图,常用于精确测

定衍射峰的积分强度和位置的扫描方式为()。答案:步进扫描

7.当倒易球与反射球相交,交线是一个圆环,环上每一点都满足衍射条件,可

以产生衍射。()答案:对

8.X射线衍射的充分条件是()。答案:满足布拉格方程且结构因子不为零。

9.晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的()答案:形状;大小

10.每种晶体物质都有自己特定的晶体结构,晶体结构不同则X射线衍射花样

也就各不相同。()答案:对

第二章

1.影响电磁透镜分辨率的因素包括()。答案:像散;色差;球差;衍射效应

2.孔径半角越小,衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。()答案:错

3.透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节()的位置来实现的。答

案:中间镜

4.制备透射电镜薄膜样品时,离子减薄既适用于导电样品,又适用于不导电样

品。()答案:对

5.产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。()答案:错

6.简单立方结构材料发生衍射时,可以产生衍射的晶面为()。答案:

(111);(200);(100);(110)

7.衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。()答案:错

8.根据衍衬运动学原理,理想晶体衍射强度随()而变化。答案:样品厚度;偏

离矢量

9.暗场像中位错线的像为亮线。()答案:对

第三章

1.电子束与固体样品作用时,产生的信号有()。答案:特征X射线;二次电子;

俄歇电子;背散射电子

2.电子束与固体样品作用时,会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品

()的增加而增多。答案:原子序数

3.扫描电镜的二次电子像中,样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子,在荧

光屏上这些部位的亮度较大。()答案:错

4.在扫描电镜观察样品,对样品微观组织形貌敏感的成像信号是()。答案:

二次电子

5.与光镜呈像相比,扫描电镜图像立体感强,形态逼真,这是由于扫描电镜的

()比光镜大100-500倍。答案:景深

6.扫描电镜中,无论二次电子呈像还是背散射电子呈像,图像的分辨率不发生

改变。()答案:错

7.被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子,能量基本上没有

损失。()答案:错

8.扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。()答案:错

9.扫描电镜的背散射电子像中,图像上亮区对应区域的原子序数()暗区对

应区域的原子序数。答案:大于

10.二次电子像衬度最亮的表面区域是()。答案:法线与电子束成86°的表面

第四章

1.电子探针的能谱仪和波谱仪比较,波谱仪()。答案:分析速度慢;分辨率高;

分析元素范围广

2.在电子探针中,测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪,简写为()。

答案:EDS

3.利用电子探针,可以对样品的成分进行()。答案:定量分析;定性分析

4.利用电子探针的波谱仪,一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的,因此一

个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。()答案:对

5.在电子探针面分析中,根据图像上亮点的疏密和分布,可确定该元素在试样

中分布情况,亮区代表元素含量()。答案:高

6.电子探针的主要功能是进行微区成分分析。()答案:对

7.利用电子探针对材料微区成分进行面分析,包含几

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