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T∕ZZB 1335-2019 高清成像用光学低通滤波片.docxVIP

T∕ZZB 1335-2019 高清成像用光学低通滤波片.docx

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团体标准

T/ZZB1335—2019

高清成像用光学低通滤波片Opticallowpassfilterforhigh-definitionimaging

2019-11-15发布2019-11-30实施

浙江省品牌建设联合会发布

T/ZZB1335—2019

I

目次

前言 II

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4产品结构 2

5基本要求 3

6技术要求 4

7试验方法 6

8检验规则 8

9标志、包装、运输和贮存 9

10质量承诺 10

T/ZZB1335—2019

II

前言

本标准依据GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本标准的某些内容可能涉及专利,本标准的发布机构不承担识别这些专利的责任。本标准由浙江省品牌建设联合会提出并归口管理。

本标准由浙江省标准化研究院牵头组织制定。

本标准主要起草单位:浙江水晶光电科技股份有限公司。

本标准参与起草单位:浙江省标准化研究院、浙江台佳电子信息科技有限公司、成都光明光电股份有限公司、青岛豪雅光电子有限公司(排名不分先后)。

本标准主要起草人:陈青华、董林春、余子英、倪敏捷、俞妩媚、鲍蓓蕾、周慧敏、潘余冬、王文亮。

本标准评审专家组长:陈萍。

本标准由浙江省标准化研究院负责解释。

T/ZZB1335—2019

1

高清成像用光学低通滤波片

1范围

本标准规定了高清成像用光学低通滤波片的术语和定义、产品结构、基本要求、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存和质量承诺。

本标准适用于单反相机、工业相机、摄像机等高清成像设备用光学低通滤波片(以下简称“滤波片”)。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

GB/T191包装储运图示标志GB/T1185光学零件表面疵病

GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温GB/T2423.2电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温GB/T2423.3环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验

GB/T2423.22环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化

GB/T2423.24环境试验第2部分:试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射及其试验导则GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划

GB/T2831光学零件的面形偏差

GB/T7896人造光学石英晶体试验方法GB/T11164真空镀膜设备通用技术条件GB/T15488光学玻璃

GB/T15489.1光学玻璃测试方法光学性能GB/T19142出口商品包装通则

GB/T28786真空技术真空镀膜层结合强度测量方法胶带粘贴法

GB/T32988人造石英光学低通滤波器晶片

GB50472电子工业洁净厂房设计规范

JB/T8226.1光学零件镀膜减反射膜

JB/T8226.8光学零件镀膜截止滤光膜

3术语和定义

GB/T1185和GB/T32988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1

反射膜anti-reflectancecoating

为降低表面反射率、提高光的透过率,在滤波片表面所镀的光学薄膜。3.2

T/ZZB1335—2019

2

截止波长cutoffwavelength

透过率在50%时所对应的波长,分为低频波段截止波长λ1与高频波段截止波长λ2,如下图1所示。

a)低频波段截止波长b)高频波段截止波长(右)

图1截至波长

3.3

雾度haze

透过产品而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比,用百分数表示。3.4

光学低通滤波片opticallowpassfilter

用石英晶体等光学材料制作,采用单片或多片组合并镀膜等方式,让某一频率以下的光信号分量通过,而抑制该频率以上的光信号分量的光学元器件。

4产品结构

本标准中的滤波片由单片或多片石英晶体、光学玻璃组合而成,片之间用光学胶粘合,组合的外侧面镀有光学薄膜,

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