《晶体硅光伏电池电势诱导衰减测试方法》征求意见稿.pdf

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T/CSTMXXXXX—202X

晶体硅光伏电池电势诱导衰减测试方法

1范围

本文件规定了晶体硅光伏电池电势诱导衰减(PID)测试方法的术语和定义、设备与仪器、测试条

件、样品制备、测试步骤、试验数据处理、判定标准和试验报告等。

本文件适用于评估晶体硅光伏电池在高温、高湿、偏压环境下的功率衰减。使

2规范性引用文件见

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文

件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。

IEC61215-2地面用光伏组件-设计鉴定和定型第2部分:测试程序(Terrestrialphotovoltaic

(PV)modules-Designqualificationandtypeapproval-Part2:Testprocedures)

IECTS62804-1光伏组件-电势诱导衰减的检测方法-第1部分.晶体硅Photovoltaic(PV)modules-

Testmethodsforthedetectionofpotential-induceddegradation-Part1:Crystallinesilicon

IEC60904-2光伏器件-第2部分:光伏参考器件的要求(Photovoltaicdevices-Part2:Requirements

forphotovoltaicreferencedevices)征

3术语和定义M

3.1电势诱导衰减potential-induceddegradation(PID)

光伏组件与地面形成高强度负电压,其形成的电位差将导致发电效率衰减的现象。

T

3.2层叠件Photovoltaiclaminates

将各种材料以光伏组件所需材料的铺设方式堆叠起来组成层叠件,如图2所示。

S

4设备与仪器

C

需要下列仪器与设备完成测试:

a)环境老化试验箱(空间)需满足如下要求:

1)无光环境;

2)温度范围25℃-105℃;

3)相对湿度控制在10%-100%;

4)内部无污染气体。

b)PID测试电源:满足IEC62804-1:2015标准规定的直流电源;

c)电池IV测试仪需满足如下要求:

1)照射均匀性:<±2%(ClassA级别,参照IEC60904-2要求);

2)照射长时间不稳性:<±0.5%(ClassA级别,参照IEC60904-2要求);

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