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数字集成电路中老化预测传感器的创新设计与性能优化研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科技飞速发展的浪潮中，数字集成电路作为信息技术的核心基础，其重要性不言而喻，广泛应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子、航空航天等众多领域，推动着各行业的数字化转型与智能化升级。从智能手机的高性能处理器，到超级计算机的强大运算核心，从汽车自动驾驶系统的关键控制芯片，到卫星通信设备的信号处理模块，数字集成电路无处不在，成为支撑现代社会高效运转的关键力量。

近年来，数字集成电路技术呈现出迅猛的发展态势，其特征尺寸不断缩小，集成度持续提高。根据摩尔定律，集成电路上可容纳的晶体管数目大约每18-24个