FLASH存储器测试系统设计与实现.pdf

摘要

随着集成电路产业的蓬勃发展和智能终端的普及，存储器芯片的市场不断扩

大，而在此背景之下则是芯片与相关测试设备严重依赖国外进口的现状。存储器测

试系统可对存储器进行全方位的功能与参数测试，广泛应用于设计验证、生产制造、

成品检测等流程中，因而对存储器测试方法与测试设备的研究显得十分必要。

本课题的主要研究内容包括：

1、FLASH故障机理及测试图形算法研究。FLASH内部的存储单元块可在断

电情况下保存数据，并支持擦除与再编程操作。对FLASH进行功能测试，目的是

检测出在设计、制造与使用过程中可能存在的功能性故障。根据故障原因不同可抽

象出多种故障模型，并通过不同的测试图形算法来检测。

2、FLASH存储器测试系统硬件方案设计。本课题根据测试需要，将整体测试

系统分为主控CPU、背板、电源板、功能测试模块等四个部分。功能测试模块作

为最核心的部分，承担了测试向量产生、处理、发送，以及结果比较的功能。运行

测试时，将测试信号通过线缆传输至测试接口板，最终连接至芯片引脚。

3、数字测试码型的生成与输出。测试码型要求将向量按照预设的时序边沿信

息重组后再发送，并产生对期望结果的精确比较时刻。本课题比较了多种码型生成

与输出方案的优劣，讨论了不同方案对于生成速度、资源开销以及成本的影响，选

择适基于延时的码型生成方式。

4、测试图形生成与协议转换。测试系统支持硬件产生指定测试图形，或使用

测试人员设计的自定义测试图形对FLASH进行功能测试。图形生成模块用以产生

当前选定的测试流程与测试图形，协议转换模块则将无法直接使用的测试图形转

换为遵循该存储器控制协议的测试向量。由于使用硬件生成测试图形，无需人工编

写测试向量，执行流程更快，效率更高。

本课题研制了一款基于分布式设计的FLASH存储器测试系统,具备每引脚精

准测量单元（PinParametricMeasurementUnit,PPMU），具备针对FLASH存储器

的多种测试图形的生成与测试能力，可进行级联扩展，组成超大规模存储器测试系

统实现“多片同测”，大幅提升测试效率。本系统亦可作为数字测试设备对普通数

字芯片进行测试。最终，使用本测试系统对待测芯片MT28FW02GBBA进行了包

括功能性测试、直流参数测试、交流参数测试的完整测试，并对测试结果进行分析。

关键词：码型实时生成，测试图形产生，存储器测试系统，数字码型合成

ABSTRACT

Withthevigorousdevelopmentoftheintegratedcircuitindustryandthe

popularizationofsmartterminals,themarketformemorychipscontinuestoexpand.

Againstthisbackground,chipsandrelatedtestingequipmentareheavilydependenton

foreignimports.Thememorytestsystemcanperformafullrangeoffunctionaland

parametertestsonmemory,andiswidelyusedindesignverification,manufacturing,

finishedproducttestingandotherprocesses.Therefore,itisnecessarytostudymemory

testmethodsandtestequipment.

Themainresearchcontentsofthisthesisinclude:

1.Researchonflashfaultmechanismandtestgraphicsalgorithm.Asakindofnon-

volatilememory,thememorycellinFLASHcansavethec