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GB/T 45721.1-2025半导体器件　应力迁移试验　第1部分：铜应力迁移试验.pdf

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  • 2025-06-26 发布于四川
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  •   |  2025-05-30 颁布
  •   |  2025-09-01 实施

GB/T 45721.1-2025半导体器件　应力迁移试验　第1部分：铜应力迁移试验.pdf

    ICS31.080.01

    CCSL40

    中华人民共和国国家标准

    /—/:

    GBT45721.12025IEC62880-12017

    半导体器件应力迁移试验

    :

    第部分铜应力迁移试验

    1

    ——

    SemiconductordevicesStressmirationtest

    g

    :

    Part1Coerstressmirationtest

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