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NXP 系列：LPC1768_45. LPC1768的片上调试.docx

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    45.LPC1768的片上调试

    45.1片上调试概述

    片上调试（On-ChipDebugging,OCD）是现代嵌入式系统开发中不可或缺的一部分。它允许开发人员在目标硬件上直接调试和测试代码，而无需复杂的外部调试设备。LPC1768微控制器配备了强大的片上调试功能，支持多种调试接口，如JTAG和SWD（SerialWireDebug）。这些接口不仅能够提供详细的调试信息，还能在运行时对代码进行修改和测试，极大地提高了开发效率。

    45.2JTAG接口

    JTAG（JointTestActionGroup）是一种标准的调试接口，广泛用于嵌入

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