半导体分立器件和集成电路键合工职业技能鉴定经典试题含答案.docVIP

半导体分立器件和集成电路键合工职业技能鉴定经典试题含答案.doc

  1. 1、本文档共11页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  5. 5、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  6. 6、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  7. 7、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  8. 8、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多

半导体分立器件和集成电路键合工职业技能鉴定经典试题含答案

工种:半导体分立器件和集成电路键合工

等级:中级

时间:120分钟

满分:100分

---

一、选择题(每题1分,共30分)

1.键合线断裂的主要原因不包括()。

A.烧结温度过高

B.键合张力过大

C.基板振动

D.材料纯度足够

2.硅片键合时,常用的键合材料不包括()。

A.金(Au)

B.银合金(AgAl)

C.铜合金(Cu)

D.铝(Al)

3.等离子体键合技术的优势不包括()。

A.键合强度高

B.键合速度慢

C.可用于高可靠性器件

D.设备成本较低

4.键合过程中,基板温度过高会导致()。

A.键合线拉直

B.键合线弯曲

C.键合强度下降

D.键合线断裂

5.球焊键合中,球的大小通常控制在()。

A.10-20μm

B.50-100μm

C.200-500μm

D.1-5mm

6.簧焊键合适用于()。

A.高频应用

B.低频应用

C.微功率器件

D.大功率器件

7.键合线的拉力测试时,标准测试速度为()。

A.0.1mm/s

B.1mm/s

C.10mm/s

D.100mm/s

8.键合过程中,金属球的粘度应控制在()。

A.过高

B.过低

C.适中

D.不受限制

9.键合机的X-Y平台精度通常要求达到()。

A.±0.01mm

B.±0.1mm

C.±1mm

D.±10mm

10.键合过程中,基板污染会导致()。

A.键合强度提高

B.键合线变粗

C.键合线断裂

D.键合线变细

11.键合工艺中,常用的气氛为()。

A.氮气(N?)

B.氧气(O?)

C.氢气(H?)

D.空气

12.键合线拉力测试中,标准破坏强度为()。

A.5N

B.10N

C.20N

D.50N

13.等离子体键合的等离子体源通常是()。

A.氩气(Ar)

B.氮气(N?)

C.氢气(H?)

D.氧气(O?)

14.键合过程中,金属球的直径过大会导致()。

A.键合强度提高

B.键合线变粗

C.键合线断裂

D.键合线变细

15.键合机的振动测试时,标准频率为()。

A.10Hz

B.100Hz

C.1000Hz

D.10000Hz

16.键合工艺中,常用的烧结温度为()。

A.200℃

B.400℃

C.600℃

D.800℃

17.键合线弯曲测试时,标准弯曲半径为()。

A.1mm

B.5mm

C.10mm

D.20mm

18.键合过程中,金属球的粘度过高会导致()。

A.键合强度提高

B.键合线变粗

C.键合线断裂

D.键合线变细

19.键合机的X-Y平台重复定位精度通常要求达到()。

A.±0.001mm

B.±0.01mm

C.±0.1mm

D.±1mm

20.键合过程中,基板湿度过高会导致()。

A.键合强度提高

B.键合线变粗

C.键合线断裂

D.键合线变细

21.键合工艺中,常用的金属球直径为()。

A.5μm

B.20μm

C.50μm

D.100μm

22.键合线拉力测试中,标准测试时间为()。

A.1s

B.5s

C.10s

D.30s

23.键合机的振动测试时,标准加速度为()。

A.1m/s2

B.5m/s2

C.10m/s2

D.50m/s2

24.键合过程中,金属球的粘度过低会导致()。

A.键合强度提高

B.键合线变粗

C.键合线断裂

D.键合线变细

25.键合工艺中,常用的烧结时间为()。

A.1s

B.10s

C.60s

D.300s

26.键合线弯曲测试时,标准弯曲次数为()。

A.100次

B.500次

C.1000次

D.5000次

27.键合机的X-Y平台运动速度通常要求达到()。

A.1mm/s

B.10mm/s

C.100mm/s

D.1000mm/s

28.键合过程中,金属球的粘度受温度影响较大,温度过高会导致()。

A.键合强度提高

B.键合线变粗

C.键合线断裂

D.键合线变细

29.键合线拉力测试中,标准破坏方式为()。

A.拉断

B.弯曲

C.压缩

D.撕裂

30.键合工艺中,常用的气氛压力为()。

A.1×10?Pa

B.1×10?Pa

C.1×10?Pa

D.1×10?Pa

---

二、判断题(每题1分,共20分)

1.键合线断裂一定是由于金属球质量差导致的。(×)

2.键合工艺中,金属球粘度越高越好。(×)

3.等离子体键合适用于高可靠性器件。(√)

4.键合过程中,基板温度过高会导致键合线变粗。(×)

5.球焊键合适用于大功率器件。(√)

6.键合线的拉力测试时,标准测试速度为1mm/s。(√)

7.键合机的X-Y平台精度通常要求达到±0.01mm。(√)

8.键合过程中,基板污染会导致键合强度提高。(×)

9.键合工艺中,常用的气氛为氮气(N?)。(√)

10.键合线拉力测试中,标准破坏强度为10N。(√)

11.等离

文档评论(0)

高胖莹 + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档