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集成电路制造技术集成电路制造技术——原理与工艺
硅衬底制备JICHENGDIANLUZHIZAOJISHU
硅片制造第一章硅片制造JICHENGDIANLUZHIZAOJISHU
1.4硅晶体中的杂质1.5切制硅片目录CONTENTS1.1硅晶体的结构特点1.2单晶硅衬底制备1.3硅晶体缺陷
1.1单晶硅特性电学性质(室温)SiGeGaAs禁带宽度(eV)1.120.671.43禁带类型间接间接直接晶格电子迁移率(cm2/V·s)135039008600晶格空穴迁移率(cm2/V·s)4801900250本征载流子浓度(cm-3)1.4
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