超大规模集成电路测试数据压缩：方法、挑战与创新策略.docx

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2025-08-12 发布于上海
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超大规模集成电路测试数据压缩：方法、挑战与创新策略

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代信息技术飞速发展的时代，超大规模集成电路（VeryLargeScaleIntegration，VLSI）作为电子设备的核心部件，其重要性不言而喻。从日常使用的智能手机、平板电脑，到高端的超级计算机、人工智能服务器，超大规模集成电路都扮演着关键角色。随着集成电路工艺的不断进步，芯片的集成度呈指数级增长，这使得芯片的功能越来越强大，性能越来越优越。例如，在过去几十年中，芯片上的晶体管数量每18-24个月就会翻倍，这一现象被称为摩尔定律。这种集成度的提升带来了芯片性能的显著提升，如计算速度更快