基于图像传感器的微纳米定位方法：原理、优化与应用探索.docx

基于图像传感器的微纳米定位方法：原理、优化与应用探索

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科技飞速发展的进程中，微纳米尺度下的精确定位技术已成为众多前沿领域取得突破的关键支撑，其重要性与日俱增，贯穿于从基础科研到高端产业制造的各个环节，深刻影响着人类对微观世界的探索深度以及相关产业的发展高度。

在半导体制造领域，芯片的集成度不断提升，对光刻技术中的定位精度要求近乎苛刻。以先进的极紫外光刻（EUV）技术为例，其目标是实现几纳米甚至更小尺度的线宽图案转移，这就需要微纳米定位系统能够精确控制光刻掩模与硅片之间的相对位置，误差需控制在纳米量级。任何微小的定位偏差都可能导致芯片性能下降、良品率降低，