FPGA赋能电容层析成像:图像重建算法的深度优化与创新.docx

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FPGA赋能电容层析成像:图像重建算法的深度优化与创新

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代工业生产和科学研究中,对物体内部结构和参数分布的准确获取至关重要。电容层析成像(ElectricalCapacitanceTomography,ECT)技术作为一种重要的过程层析成像技术,自20世纪80年代兴起以来,凭借其独特优势在众多领域得到广泛关注与应用。其基本原理基于电容传感器阵列,通过测量物体边界上多个电极之间的电容变化,依据不同介质介电常数差异,进而推断内部介质的介电常数分布,最终重建出物体内部结构的图像。

ECT技术具有成本低、结构简单、响应速度快、非侵入性以及无辐射等显著

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