CN119414212B 四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 (麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司).pdfVIP

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  • 2025-09-18 发布于重庆
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CN119414212B 四探针测量仪、四探针测量系统及四探针测量仪测量待测晶圆的方法 (麦峤里(上海)半导体科技有限责任公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119414212B

(45)授权公告日2025.06.03

(21)申请号202510007147.1(51)Int.Cl.

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