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面向小时延缺陷的高效测试通路选择策略与应用研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科技飞速发展的时代，集成电路作为电子设备的核心部件，其重要性不言而喻。从日常使用的智能手机、平板电脑，到工业领域的自动化控制系统、通信基站，再到航空航天中的精密仪器，集成电路无处不在，支撑着各种电子设备的正常运行。随着集成电路制造工艺的不断进步，芯片上能够集成的晶体管数目呈指数级增长，这使得芯片的功能密度大幅提高，工作频率也不断攀升。以智能手机芯片为例，近年来其性能不断提升，能够实现更快速的运算、更清晰的图像显示以及更流畅的多任务处理，这都得益于集成电路技术的发展。

然而，这种发展也带来了诸多挑战。在芯片制