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激光衍射测量和莫尔条纹技术第1页,共40页。

菲涅耳衍射:当光源和衍射屛都离障碍物有限远时,也称近场衍射。夫琅和费衍射:当光源和衍射屛都离障碍物无限远时,也称远场衍射。夫琅和费衍射计算简单,用处较多,以后所讨论的均为此类衍射。2第2页,共40页。

3单缝衍射测量a.单缝衍射测量原理3第3页,共40页。

4衍射强度分布为:式中,是衍射角,是衍射角时的衍射强度。由上可知:1.衍射条纹平行于被测狭缝。2.当时,衍射为暗条纹。4第4页,共40页。

5b.测量微小尺寸原理只要能精确地测出第K级暗条纹的,就能计算出狭缝宽度b。第K级暗条纹:零级条纹中心到第K暗条纹的距离,L:衍射屛到狭缝的距离。5第5页,共40页。

6当狭缝的尺寸微小变化?b时,第K级暗条纹的位置将移动分别是第k个暗条纹在缝宽变化前和变化后距中央零级条纹中心的距离c.单缝衍射测量方法与应用间隙测量法条纹的变化数目?N6第6页,共40页。

7间隙测量法的应用:可用于测定各种物理量的变化,如应变、压力、温度、流量、加速度等。7第7页,共40页。

8参考物和试件不在同一平面内分离间隙测量法8第8页,共40页。

9在P1处出现暗条纹的条件在P2处出现暗条纹的条件9第9页,共40页。

1010第10页,共40页。

11基于巴俾涅原理互补测量法光波照射两个互补屏(一个衍射屏的开孔部分正好与另一个衍射屏的不透明部分对应,反之亦然。),所产生的衍射图样的形状和光强完全相同,仅相位差为?。S为暗条纹间距;xk为k级暗条纹位置第11页,共40页。

12b值越小,波长?越大,级次k越大,?值越大。假设:那么:1.灵敏度:d.单缝衍射测量的技术特性如果的测量分辨率是12第12页,共40页。

13狭缝b的测量误差为:2222)()()(kkkkxxkffxkxkfbdldldld++±=2.测量精度:假设测量?,f和的测量误差分别为??、?f、考虑到环境干扰的影响,13第13页,共40页。

14这意味着db的变化量可放大250倍。但随着b的增大,放大倍数将急剧地减小。f的增大将受到仪器尺寸的限制。所以衍射测量的高测量精度只有在测量微小尺寸时才能够得到保证。这就决定了衍射测量的测量范围很小。3.测量范围:14第14页,共40页。

15如果狭缝宽度太小(例如b=1?m),光学透镜成象的近轴条件得不到满足,所以b不能太小。当b的范围为:15第15页,共40页。

1616圆孔半径a?L衍射屏观察屏焦距f中央亮斑(爱里斑)?1圆孔衍射装置示意图1.22(?/D)sin?01I/I0圆孔衍射的相对光强曲线衍射强度分布为:圆孔衍射测量16第16页,共40页。

1717夫琅和费圆孔(或圆屏)衍射决定了决定了望远镜、照相机、显微镜等光学仪器的分辨能力。圆孔衍射图样光学仪器的分辨率17第17页,共40页。

18光栅衍射测量具有周期性的空间结构或光学性能(如透射率、折射率)的衍射屏统称为光栅。光栅刻线也称为栅线,栅线间的距离叫做栅距(亦称光栅节距或光栅常数)。光栅分类:粗光栅(光栅常数d远大于照明光波长)和细光栅(d接近或稍大于照明光波长);透射光栅和反射光栅;平面光栅和凹面光栅;黑白光栅和正弦光栅;一维光栅、二维光栅和三维光栅;直线光栅和圆光栅;物理光栅和计量光栅等。18第18页,共40页。

19物理光栅:光栅刻线细密,工作原理是建立在衍射分光现象基础上,主要用途为光谱分析、波长测定,广泛应用于光谱仪和光通信中。光栅光谱仪装置图光栅型波分复用器的结构示意图计量光栅:光栅刻线较粗,工作原理是莫尔条纹现象,主要用于位移的精密测量和控制。19第19页,共40页。

20第20页,共40页。

211、莫尔条纹起源2、1874年,英国物理学家瑞利首次将莫尔条纹作为一种计量测试手段,开创了莫尔测试技术。3、光栅莫尔条纹法:利用计量光栅元件产生莫尔条纹的计测方法。4、可测量角度、长度、振动等。5、在自动跟踪、轨迹控制、变形测试、三维物体表面轮廓测量等方面有广阔的应用。4.2莫尔条纹测试技术21第21页,共40页。

221、遮光原理:一块光栅的不透光线纹对另一光栅缝隙的遮挡作用。2、衍射干涉原理:衍射波之间的干涉结果3、傅里叶变换原理:光栅副透

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