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探索时序电路测试生成算法：演进、原理与创新应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子系统中，集成电路扮演着举足轻重的角色，其广泛应用于计算机、通信、控制等众多领域。随着科技的迅猛发展，集成电路的规模和复杂度呈指数级增长，从早期的小规模集成电路（SSI）逐步发展到中规模集成电路（MSI）、大规模集成电路（LSI），直至如今的超大规模集成电路（VLSI）和甚大规模集成电路（ULSI）。这种发展趋势使得芯片上能够集成数以亿计的晶体管，实现更为复杂的功能，如高性能处理器能够在微小的芯片上集成数十亿个晶体管，以支持高速运算和多任务处理。

在集成电路中，时序电路作为核心组成部分，具有独特的记忆功