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GB/T17626.36《电磁兼容试验和测量技术第36部分：设备和系统的有意电磁干扰抗扰度试验方法》发展报告

EnglishTitle

DevelopmentReportonGB/T17626.36ElectromagneticCompatibility-TestingandMeasurementTechniques-Part36:ImmunityTestMethodsforEquipmentandSystemstoIntentionalElectromagneticInterference

摘要

随着电子技术的飞速发展和电磁环境的日益复杂，有意电磁干扰（IEMI）已成为电磁兼容领域的重要研究课题。本报告基于GB/T17626.36标准的立项背景，系统阐述了该标准的目的意义、适用范围和主要技术内容。该标准旨在建立设备和系统对有意电磁干扰的抗扰度试验方法，填补了国内在IEMI测试领域的标准空白。报告详细分析了IEMI对电子设备的潜在危害，包括信号完整性破坏、电路参数变化、系统逻辑状态异常等关键技术问题。通过制定科学的试验方法和要求，该标准将为电子设备和系统的电磁防护提供技术依据，对保障关键基础设施安全、防止重大事故和经济损失具有重要价值。本标准的实施将完善GB/T17626抗扰度标准体系，推动我国电磁兼容技术水平的整体提升。

关键词：电磁兼容；有意电磁干扰；抗扰度试验；试验方法；设备安全

Keywords:ElectromagneticCompatibility;IntentionalElectromagneticInterference;ImmunityTesting;TestMethods;EquipmentSafety

正文

1标准制定的目的与意义

在现代电子技术快速发展的背景下，使用电磁源产生的有意电磁干扰（IEMI）问题日益凸显，已成为电磁兼容领域的重要研究方向。IEMI区别于传统的无意电磁干扰，其特点是具有明确的目的性、针对性和较高的功率密度，对电子设备和系统的安全运行构成严重威胁。

从技术层面分析，IEMI主要通过以下机制影响电子设备：首先，IEMI会显著增加设备和系统信号线和电源线上的噪声电平，导致显示屏闪烁、数据速率降低等性能劣化现象；其次，IEMI产生的感应信号会使模拟电路的参数发生异常变化，包括偏移、漂移等关键参数失真；第三，IEMI注入的信号能够改变数据流的字节结构，破坏传输信息的完整性；此外，IEMI还会导致系统产生混乱或崩溃，严重影响电子系统的逻辑状态，具体表现为触发数字器件、改变计数器或逻辑电路状态等功能异常。

特别需要关注的是，现代电子设备中广泛使用的印制电路板或集成电路等部件的绝缘层对IEMI信号极为敏感。当绝缘层厚度不足时，感应的电压信号可能引发电击穿现象，造成设备的永久性损坏。根据国际电工委员会（IEC）的相关研究报告，在特定条件下，IEMI可使电子设备的故障率提高30%以上。

针对上述技术问题，建立科学规范的试验方法和要求显得尤为重要。GB/T17626.36标准的制定，不仅为评估设备和系统承受IEMI能力提供了技术依据，更重要的是完善了GB/T17626抗扰度标准体系，填补了国内在该技术领域的标准空白。该标准的实施将有效提升设备和系统对IEMI的抗扰度、防护和加固能力，避免因IEMI干扰导致的设备失效，防止重大事故和经济损失的发生。

2范围与主要技术内容

2.1标准范围界定

本文件确立了评估设备和系统对有意电磁干扰（IEMI）源抗扰度试验电平的确定方法，适用于各类电子电气设备、信息技术设备、工业控制系统以及关键基础设施中使用的电子系统。标准涵盖的频率范围、试验等级和测试方法均基于对实际IEMI威胁场景的系统分析，确保测试条件的真实性和有效性。

2.2主要技术内容

标准的技术内容主要包括四个核心部分：

2.2.1一般IEMI问题分析

系统阐述IEMI的基本特性、传播机制和作用原理，包括IEMI与常规电磁干扰的区别、典型IEMI源的特征参数、以及IEMI对各类电子设备的影响机理。该部分为后续试验方法的建立提供理论基础。

2.2.2IEMI源参数规范

详细规定用于试验的IEMI源的技术要求，包括脉冲特性、频率范围、场强等级、调制方式等关键参数。这些参数的确定参考了国际先进标准的最新研究成果，并结合国内实际电磁环境特点进行优化调整。

2.2.3试验限值推导方法

提供基于风险评估的试验限值确定方法，考虑设备的重要性等级、使用环境、潜在后果等因素，建立分级的试验要求体系。该方法既保证试验的充分性，又避免过度测试造成的资源浪费。

2.2.4实际试验方法总结

系统总结适用于不同设备和系统的IEMI抗扰