基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法的创新与优化.docxVIP

下载本文档

25
0
约15.94万字
约 59页
2025-10-15 发布于上海
举报
版权申诉

基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法的创新与优化.docx

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

基于BIST的嵌入式存储器可测性设计算法的创新与优化

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代集成电路技术飞速发展的背景下，芯片的集成度正按照摩尔定律持续提高，这使得芯片的功能愈发强大，应用领域也不断拓展。随着芯片集成度的提升，芯片内部的电路结构变得异常复杂，嵌入式存储器在芯片中所占的比重日益增大。嵌入式存储器作为芯片的关键组成部分，承担着数据存储与处理的重要任务，其性能与可靠性直接关乎整个芯片系统的运行状况。

然而，随着芯片集成度和嵌入式存储器规模的不断扩大，测试问题逐渐成为制约芯片行业发展的瓶颈。传统的测试方法，如使用自动测试设备（ATE）对芯片进行测试，在面对大规模、高复杂度的芯片时，