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GB/T15636—2008

附录A

（资料性附录）

通用电离辐射厚度测量系统

A.1现代技术与通用电离辐射厚度测量系统

自上世纪80年代以来，现代化技术已飞速进步和发展，它影响通用电离辐射厚度测量系统（以下

简称通用测量系统或系统）的试验程序。这包括下述内容。

⚫为所有主要性能测量目标而带数据获取模块的实验室PC计算机的普及应用，这意味着自动数

据采集；统计数据处理；更广泛使用计算的变量（例如厚度）代替原始辐射信号（例如电压和

计数）；电子制表软件的表示以及数据和结果的处理；许多更大的数据集。

⚫与访问测量信息的新系统有关的特性，例如：很高速的采样；集成工作站的数据记录、统计数

据处理、视频和（或）打印的表格和图形数据表达式；高分辨的扫描测量廓形分布图；带记录

和报告趋向的长期性能特性的大型数据库；预故障分析等。

⚫最大限度提高不利环境中绝对准确度的新设计特性，例如：消除由于测量路径上的杂质（灰尘

/污垢）、温度效应、静电电荷影响、振动和（或）噪声等所造成的误差；测量空气柱补偿；内

部的测量参考样品；微计算机和微控制器直接嵌入传感器。

本附录适用于为显示或控制目的有一个或多个输出的系统。信号可能是模拟量或数字量。系统也可

包括在输出信号前以不同方式进行补偿和信号处理的多输入信号。

当今使用的许多厚度测量系统具有多个测量头/传感器，并使用不同方法来补偿测量头信号，以便

将引入测量误差的外来影响量的效应减到最小。专用微处理器和小型机具有更强的多输入信号处理和误

差补偿的技术。在更复杂的系统中，通过静态试验全面评价相互作用的信号处理和补偿算法的有效性是

很困难的。例如，测量头/传感器的信号要在某些分析功能中组合，其响应时间和数据采集时间在本标

准的静态试验条件下无关紧要，但如果它们不正确匹配，在动态试验条件下能导致很大的误差。被补偿

的影响量误差的相对大小同样也很重要。

为得到同样的总体结果，与呈现较小误差的传感器相比，对影响量高度灵敏的传感器的补偿方式

宜更准确。因此，进行性能试验是必要的，它可能包括所有相互作用信号的处理和补偿。

本标准中，术语“厚度”用来表示单位面积质量、单位长度质量或厚度。通常，辐射探测器测量

单位面积质量，而输出信号能以真实厚度单位的形式表示，唯一条件是被测材料的有效原子序数和密度

已知，或系统按实际制造的样品校准，而被测材料的有效原子序数和密度相对这些样品并不改变。对棒

形样品，其横截面积已知或不变时，系统输出信号可用单位长度质量表示。

A.2通用测量系统的描述

工业应用的电离辐射厚度测量系统有许多形式，其复杂程度各异。为有效比较它们的基本能力和限

制，宜确定通用功能和合适测试点。图A.1为本附录使用的通用测量系统的方框图。一个系统的实际特

性和功能与本通用化测量系统的关联将方便该系统的试验和评价。

图A.1特别指明，何处适用不同的技术规范和本标准的试验，并能使用户以任何给定的陈述判断它

们的相关性。对图A.1中编号方框列出的描述可有助于获得相应理解。通用化系统中有效测量的响应时

间和噪声由τ和n表征。图中与测量信号相关联的每个框均对整个系统的时间响应和噪声特性有自己的

贡献。

对图A.1的说明。

⑴测量以辐射源的能量发射开始。通常使用X射线机和密封放射源。特定辐射源的选择基于辐射

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类型（例如α,β,γ,X射线）、辐射能量、半衰期、源强和安全考虑。

⑵当系统不测量时，通常提供闸门以衰减辐射束。合理的测量头设计应保证闸门开启时不以非重

复方式而改变辐射束。闸门动作也可将源移动到屏蔽位置来实现。

⑶,⑹不同的几何部件限定辐射束的形状。它们不仅提供辐射屏蔽，而且对固有测量误差提供补偿。

对测量头准直性误差的不灵敏、被测材料通行线变化和样品的成分影响能通过几何部件的合理

设计予以改善。

⑷源和探测器之间的空气柱构成测量头所测单位面积质量的一部分。说明1cm的空气柱相当标准