- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
电子元器件失效分析技术与案例
费庆学
二站开始使用电子器件当时电子元器件的寿命20h.
Americanfrom1959开始:1。可靠性评价,预估产品寿命2。可靠性增长。不
一定知道产品寿命,通过方法延长寿命。通过恶裂环境的试验。通过改进提高
寿命。―――后来叫a.可靠性物理—实效分析的实例b.可靠数学
第一部分:电子元器件失效分析技术(方法)第一部分:电子元器件失效分析技术(方法)
1.失效分析的基本的概念和一般程序。
A定义:
对电子元器件的失效的原因的诊断过程
b.目的:0000000
c.失效模
原创力文档


文档评论(0)