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士不可以不弘毅，任重而道远。仁以为己任，不亦重乎?死而后已，不亦远乎?——《论语》

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怎么用极图分析材料的织构

篇一：材料分析方法

XRF

1．基本原理

X射线管产生入射X射线（一次射线），照射到被测样品上。样品中

的每一种元素会放射出具有特定能量特征的二次X射线（荧光X射

线）。二次X射线投射到分光晶体的表面，按照布拉格定律产生衍射，

不同波长的荧光X射线按波长顺序排列成光谱。这些谱线由检测器

在不同的衍射角上检测，转变为脉冲信号，经电路放大，最后由计算

机处理输出。

2．XRF样品制备理想待测试样应满足的条件

有足够的代表性（因为荧光分析样品的有效厚度一般只有10～100μ

ｍ；

试样均匀；

表面平整、光洁、无裂纹；

试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变型、不引起化学变化；

组织结构一致!

3．特点，应用范围

X射线光谱分析技术是一种化学成分分析，相对于传统的化学分析，

最大的优点就是无损检测，应用领域及其广泛，如：冶金、材料、地

不飞则已，一飞冲天；不鸣则已，一鸣惊人。——《韩非子》

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质、环境及工业等。

它具有分析速度快、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，

光谱干扰少等优点。

X射线荧光光谱分析不仅可以分析块状、粉末还可以分析液体样品。

4.XRF与传统化学分析相比

无损检测、重复性高、分析速度快、测试过程简单

5.XRF与icP仪器法相比

icP需要融掉样品，相对于XRF样品前处理较复杂

icP的基体效应小，微含量元素测量占优势，而XRF对高含量元素测

量准确度更高

第一章X射线内应力的测定

1．第i类应力（σⅠ）：在物体宏观较大体积或多晶粒范围内存在并

保持平衡的应力。此类应力释放会使物体宏观体积或形状发生变化，

称之为“宏观应力”或“残余应力”。

衍射效应：能使衍射线产生位移。

第ii类内应力（σⅡ）：在一个或少数个晶粒范围内存在并保持平衡

的内应力。

衍射效应：引起线形变化（峰宽化）。

第iii类应力（σⅢ）：在若干原子范围存在并保持平衡的内应力。

衍射效应：能使衍射强度减弱。

2.X射线应力测定的基本原理

人人好公，则天下太平；人人营私，则天下大乱。——刘鹗

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通过测定弹性应变量推算应力（σ=Eε）。

通过晶面间距的变化来表征应变

（σ=Eε=E△d/d0）

晶面间距的变化与衍射角2θ的变化有关。

因此，只要知道试样表面上某个衍射方向上某个晶面的衍射线位移量

△θ，即可计算出晶面间距的变化量△d/d，进一步通过胡克定律计

算出该方向上的应力数值。3.K??E

2(1??)180o??cot?0

式中K称为Ｘ射线弹性常数或Ｘ射线应力常数，简称应力常数。

4.宏观应力测定方法

2?

2由应力测定的基本公式：?sin?

可知，若测得m，根据测试条件取应力常数K