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变压器介损及电容量测试

变压器介损及电容量测试1试验目得某台变压器得套管,正常tanδ值为0、5%,而当受潮后tanδ值为3、5%,两个数据相差7倍;而用测量绝缘电阻检测,受潮前后得数值相差不大。由于测量介质损耗因数对反映上述缺陷具有较高得灵敏度,所以在电工制造及电力设备交接与预防性试验中都得到了广泛得应用。

变压器介损及电容量测试2试验得局限性有得设备,尽管测得得总体绝缘得介损tanδ值很小(从总体平均来瞧),但就是局部缺陷得损失可能很大而不能发现。

变压器介损及电容量测试3介损仪得种类西林电桥(QS1、QS3型高压交流平衡电桥)M型介质试验器(2500伏介质试验器,不平衡电桥)新型全自动抗干扰电桥(济南泛华电桥、金迪电桥、泛科电桥、康申电桥等等)

变压器介损及电容量测试4各种电桥得得原理QS1电桥:调节R3、C4使电桥平衡,此时a、b两点电压相等,即R3、C4两端电压相等。

变压器介损及电容量测试4各种电桥得得原理M型电桥:将试品改为并联模型。注意到Ir与Icx、Icn差90度。调节R4使Uw最小。这时IcnR4=IcxR3,Uw=IrR3,因此由于a、b间电压没有完全抵消,因此M型电桥也称为不平衡电桥。Uw测量得就是绝对值,小介损时电压很低,难以保证测量精度。

变压器介损及电容量测试4各种电桥得得原理数字电桥:数字电桥得测量回路还就是一个桥。R3、R4两端得电压经过A/D采样送到计算机。进一步可求得试品介损与电容量。???数字电桥得最大优势在于:可以实现自动测量,可以补偿所有原理性误差,没有复杂得机械调节部件,测量以软件为主,性能十分稳定。

变压器介损及电容量测试5试验项目绕组连同套管得tanδ与电容值电容型套管得tanδ与电容值

变压器介损及电容量测试5试验项目绕组连同套管得tanδ与电容值一次引线全部拆开将被试绕组短接接地充分放电被试绕组需首末端短接后加压施加电压绕组电压10kV以上:10kV绕组电压10kV以下:Un介损仪得高压屏蔽端均悬空

10大家应该也有点累了,稍作休息大家有疑问得,可以询问与交流

变压器介损及电容量测试5试验项目测量部位介损仪接线接线法其它应接地部位高压端Cx端低压绕组－高、中压绕组及地低压绕组－反接法高、中压绕组中压绕组－高、低压绕组及地中压绕组－反接法高、低压绕组高压绕组－中、低压绕组及地高压绕组－反接法中、低压绕组高、中压绕组－低压绕组及地高、中压绕组－反接法低压绕组中、低压绕组－高压绕组及地中、低压绕组－反接法高压绕组高、低压绕组－中压绕组及地高、低压绕组－反接法中压绕组高、中、低压绕组－地高、中、低压绕组－反接法－

变压器介损及电容量测试5试验项目

变压器介损及电容量测试5试验项目绕组连同套管得tanδ与电容值不拆一次引线将被试绕组短接接地充分放电。被试绕组需首末端短接后加压。施加电压绕组电压10kV以上:10kV绕组电压10kV以下:Un

变压器介损及电容量测试5试验项目测量部位介损仪接线接线法接地部件高压端Cx端高压绕组－中、低压绕组、铁芯、夹件高压绕组中、低压绕组、铁芯、夹件正接法外壳中压绕组－高、低压绕组、铁芯、夹件中压绕组高、低压绕组、铁芯、夹件正接法外壳低压绕组－高、中压绕组、铁芯、夹件低压绕组高、中压绕组、铁芯、夹件正接法外壳高、中压绕组－低压绕组、铁芯、夹件高、中压绕组低压绕组、铁芯、夹件正接法外壳高、低压绕组－中压绕组、铁芯、夹件高、低压绕组中压绕组、铁芯、夹件正接法外壳中、低压绕组－高压绕组、铁芯、夹件中、低压绕组高压绕组、铁芯、夹件正接法外壳高、中、低压绕组－铁芯、夹件高、中、低压绕组铁芯、夹件正接法外壳

变压器介损及电容量测试5试验项目

变压器介损及电容量测试5试验项目电容型套管得tanδ与电容值拆开套管末屏接地片(线)与被试套管相连得所有绕组端子短接后接介损测试仪高压端,其余绕组端子均接地,套管末屏接介损测试仪,正接线测量施加电压10kV

变压器介损及电容量测试5试验项目

变压器介损及电容量测试5试验项目电容型套管得tanδ与电容值如果电容型套管末屏对地绝缘电阻小于1000MΩ,应测量末屏对地得tanδ。套管末屏接介损测试仪高压端,与被试套管相连得所有绕组端子短接后接介损测试仪屏蔽端,加压2kV,采用反接屏蔽法测量。

变压器介损及电容量测试5试验项目

变压器介损及电容量测试6试验数据分析不同温度下得tanδ值一般按下式换算式中tanδ1、tanδ2分别为温度t1、t2时得tanδ值将所测得得tanδ换算到同一温度,并与出厂、交接、历年数值进行比较;与同型设备、同一设备相间比较。比较结果均不应有明显差异。

变压器介损及电容