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项目二
硅锭(棒)的检测
主讲人:黄宵
任务目标
任务描述
任务实施
一、任务目标
1.掌握分凝效应和蒸发效应的基本原理;
2.能正确地进行电阻率的检测;
3.能根据检测结果查出杂质含量的浓度
二、任务描述
多晶硅半导体被掺入杂质时,半导体变成非本
征的,而且引起导电型号的改变,施主杂质的
典型代表是磷,受主的典型代表是硼。本任务
采用四探针法检测电阻率。
三、任务实施
(一)悬浮区熔法检验硅多晶中硼、磷含量的原理
利用硅熔体中杂质的分凝效应(当固液或固气两相
平衡共存时,两相的组成不同。这种现象称为分凝)
和蒸发效应,在真空条件下,在硅棒上建立一个熔
区,熔区温度1410℃,并使之从一端移至另一端,
以达到提纯和控制杂质的目的。
三、任务实施
三、任务实施
以上硼、磷杂质含量也可根据测得的电阻率,对照
图2.1硅中杂质浓度和电阻率关系曲线求得。
三、任务实施
(二)区熔提纯和测试的具体要求
细棒区熔可用小型区熔炉,感应加热线圈内径ø25mm
左右,太小会影响提纯效果。从还原法生产的多晶上
切取m多晶棒,经过去油和酸洗后,用大于10MΩ·cm
超纯水冲洗、烘干备用。
硼检籽晶应从高纯P型单晶中切取,经酸腐蚀清洗后备
用(不要与P型高阻单晶相混,高阻不一定高纯,高纯
必定高阻)。磷检籽晶应从高纯N型单晶中切取,酸腐
蚀清洗后备用。
课后作业:
1.简述悬浮区熔法检测硅多晶中硼、
磷含量的原理?
2.多晶硅经过提纯到本底为P型
2000Ω·cm,其基硼的含量是多少?
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