2025年电镜分析笔试题及答案.docxVIP

2025年电镜分析笔试题及答案

一、单项选择题（共10题，每题2分）

1.电子显微镜的分辨率比光学显微镜高，主要是因为：

A.电子的波长比光子短

B.电子显微镜使用电磁透镜

C.电子显微镜可以在真空中工作

D.电子显微镜不需要染色

2.扫描电子显微镜(SEM)的主要成像原理是：

A.电子束穿透样品

B.电子束在样品表面激发二次电子

C.电子束被样品吸收

D.电子束在样品内部反射

3.透射电子显微镜(TEM)中，样品制备的关键步骤是：

A.增厚样品

B.使样品导电

C.制备超薄切片

D.染色处理

4.在电子显微镜中，加速电压越高：

A.分辨率越低

B.电子波长越长

C.分辨率越高

D.对样品损伤越小

5.能量色散X射线谱(EDS)主要用于：

A.测量样品的厚度

B.分析样品的元素组成

C.观察样品的晶体结构

D.测量样品的导电性

6.在SEM中，二次电子探测器主要用于：

A.检测背散射电子

B.检测透射电子

C.检测二次电子

D.检测X射线

7.电镜样品制备中，负染色技术主要用于：

A.增强样品的导电性

B.增强样品的反差

C.保护样品免受电子束损伤

D.固定样品结构

8.在TEM中，选区电子衍射(SAED)主要用于：

A.测量样品的厚度

B.确定样品的晶体结构

C.观察样品的表面形貌

D.分析样品的元素组成

9.环境扫描电子显微镜(ESEM)的主要特点是：

A.可以在真空条件下观察活体样品

B.可以在低真空条件下观察不导电样品

C.可以观察厚样品

D.可以快速成像

10.电镜图像中，信噪比指的是：

A.信号强度与背景噪声的比值

B.图像亮度与对比度的比值

C.分辨率与放大倍数的比值

D.电子束强度与样品厚度的比值

二、填空题（共5题，每题2分）

1.电子显微镜的分辨率极限主要受限于电子的_________。

2.在SEM中，_________电子主要来自样品表面浅层，提供表面形貌信息。

3.TEM中，电子束穿过样品后，通过_________系统形成图像。

4.电镜样品制备中，为了防止样品充电，通常需要对非导电样品进行_________处理。

5.电子显微镜的_________是指能够区分两个相邻最小特征点的能力。

三、判断题（共5题，每题2分）

1.电子显微镜的放大倍数越高，分辨率一定越高。（）

2.在TEM中，厚样品会导致电子束散射严重，降低图像质量。（）

3.SEM不需要真空环境，可以在大气中工作。（）

4.EDS可以提供样品的元素组成信息，但不能确定元素的化学状态。（）

5.所有电镜样品都需要进行金属镀膜处理。（）

四、多项选择题（共2题，每题2分）

1.以下哪些技术可以用于提高电镜图像的对比度？（）

A.负染色

B.金属镀膜

C.相位衬度

D.能量过滤

2.以下哪些因素会影响电镜的分辨率？（）

A.加速电压

B.透镜像差

C.样品厚度

D.电子束电流

五、简答题（共2题，每题5分）

1.简述透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)的主要区别。

2.解释电镜样品制备的基本原则和常见方法。

答案及解析

一、单项选择题答案及解析

1.答案：A

解析：电子显微镜的分辨率比光学显微镜高，主要是因为电子的波长比光子短。根据德布罗意关系，电子的波长λ=h/p，其中h是普朗克常数，p是电子的动量。在电子显微镜中，电子被加速到高能量，具有很小的波长，因此可以实现更高的分辨率。

2.答案：B

解析：扫描电子显微镜(SEM)的主要成像原理是电子束在样品表面激发二次电子。二次电子能量较低(通常50eV)，主要来自样品表面5-10nm的深度，能够提供样品表面的精细形貌信息。通过检测二次电子的数量和分布，可以形成样品表面的图像。

3.答案：C

解析：透射电子显微镜(TEM)中，样品制备的关键步骤是制备超薄切片。因为TEM需要电子束穿透样品，所以样品必须非常薄(通常为50-100nm)。超薄切片技术是制备生物样品和材料样品的关键步骤，需要使用超薄切片机进行。

4.答案：C

解析：在电子显微镜中，加速电压越高，电子的波长越短，因此分辨率越高。根据德布罗意关系，电子的波长λ=h/p，而电子的动量p与加速电压有关。提高加速电压可以增加电子的能量和动量，减小波长，从而提高分辨率。

5.答案：B

解析：能量色散X射线谱(EDS)主要用于分析样品的元素组成。当高能电子束轰击样品时，会激发样品中的原