行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术的深度剖析与前沿探索.docxVIP

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2025-11-09 发布于上海
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行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术的深度剖析与前沿探索.docx

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行间转移电荷耦合器件位移损伤效应测试表征技术的深度剖析与前沿探索

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的飞速发展，行间转移电荷耦合器件（InterlineTransferCharge-CoupledDevice，IT-CCD）作为一种重要的图像传感器，在众多领域得到了广泛应用。在航天领域，卫星遥感、天文观测等任务对图像的质量和稳定性要求极高。IT-CCD凭借其高灵敏度、低噪声等优势，成为获取太空图像的关键器件。然而，太空环境中存在着大量的高能粒子，如质子、电子等，这些粒子会与IT-CCD发生相互作用，导致位移损伤效应，使器件性能下降，严重影响卫星的正常工作和数据获取的准确性