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不同失效分析领域电子、机械、化学面试题区分

电子失效分析领域面试题（共5题，总分20分）

1.电子元器件参数漂移失效分析（4分）

题目：某电源模块在使用过程中，输出电压逐渐升高，最终超出规格要求。请分析可能的原因为何，并说明应如何通过测试手段定位问题。

答案与解析：

输出电压升高可能由以下原因导致：

1.稳压芯片内部元件老化：如电阻阻值变化、电容容量衰减，导致稳压精度下降。

2.负载变化或散热不良：负载减小或芯片散热不足可能导致芯片工作点偏移，输出电压升高。

3.外围元件失效：如反馈电阻开路或阻值变化，破坏稳压环路平衡。

4.温度影响