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现代材料测试技术试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每题2分，共20分。请将正确选项的代表字母填在题后的括号内。）

1.当X射线衍射仪的管电压（kV）增加时，其产生的X射线波长将（）。

A.变长B.变短C.不变D.先变长后变短

2.在扫描电子显微镜（SEM）中，用于观察样品表面二次电子产额的主要探测器是（）。

A.能量色散X射线谱仪（EDS）B.磁聚焦线圈C.二次电子探测器D.白光光源

3.透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）相比，其主要优势在于（）。

A.空间分辨率更高B.样品制备要求更低C.可进行成分分析D.放大倍数更低

4.原子力显微镜（AFM）工作时，其探针与样品表面之间主要存在的相互作用力是（）。

A.核力B.电磁力C.范德华力D.化学键力

5.在热分析技术中，差示扫描量热法（DSC）主要用于测量材料在程序控温下的（）。

A.热导率B.热容C.熔点D.密度

6.下列哪种显微镜主要利用可见光来观察样品？（）

A.X射线衍射仪B.扫描电子显微镜C.光学显微镜D.透射电子显微镜

7.能量色散X射线谱仪（EDS）分析元素时，其基本原理是利用不同元素X射线特征峰的（）不同。

A.波长B.能量C.速度D.荧光强度

8.X射线衍射（XRD）技术可以用来测定材料的（）。

A.微观硬度B.显微硬度C.晶粒尺寸D.密度

9.下列哪种材料测试技术主要用于研究材料的宏观形貌和结构？（）

A.X射线衍射B.透射电子显微镜C.光学显微镜D.原子力显微镜

10.简单偏光显微镜观察薄片样品时，当载物台旋转180度，若干涉色不变，则该薄片的（）。

A.光学特性为正B.光学特性为负C.无双折射现象D.厚度等于光程差

二、填空题（每空1分，共15分。请将答案填写在横线上。）

1.X射线衍射的基本方程是____________，它描述了劳厄斑点出现的条件。

2.扫描电子显微镜（SEM）成像主要依赖于二次电子信号，其特点是____________，对样品表面形貌的反映比较灵敏。

3.透射电子显微镜（TEM）的分辨率极限主要由____________和电子与样品的相互作用决定。

4.原子力显微镜（AFM）根据探针与样品表面作用力的不同，主要有____________和____________两种模式。

5.热分析技术中，热重分析法（TGA）主要用于测量材料在程序控温下的____________随温度的变化。

6.X射线衍射物相分析中，利用物质衍射峰的____________和____________可以鉴定样品的晶相组成。

7.光学显微镜（OM）根据物镜和目镜的放大倍数组合，可以获得不同的____________范围。

8.在进行电子显微镜样品制备时，对于导电性良好的样品，可以直接进行观察；对于非导电性样品，通常需要采用____________的方法来提高其导电性。

9.能量色散X射线谱仪（EDS）相比于波谱仪（WDS），其主要优点是____________，但检测效率和灵敏度相对较低。

10.简单偏光显微镜观察非晶质材料时，通常会观察到____________。

三、名词解释（每题3分，共12分。请给出每个名词的简洁、准确的定义。）

1.晶粒尺寸

2.衍射角

3.二次电子

4.热容

四、简答题（每题5分，共20分。请简要回答下列问题。）

1.简述X射线衍射（XRD）技术测定材料晶粒尺寸的基本原理。

2.与光学显微镜相比，电子显微镜（SEM/TEM）在分辨率和放大倍数方面有哪些显著优势？

3.在使用扫描电子显微镜（SEM）观察样品时，为什么通常需要对非导电性样品进行喷金处理？

4.简述差示扫描量热法（DSC）和热重分析法（TGA）在表征材料热性能方面的主要区别。

五、综合题（共33分。请根据要求回答下列问题。）

1.某材料研究人员需要同时测定一种新型合金的物相组成、晶粒尺寸和主要元素含量。请分别简述采用X射线衍射（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）和能量色散X射线谱仪（EDS）进行分析时，应选择哪些具体的测试条件或技术参数，并说明简要的分析步骤。（10分）

2.假设你使用透射电子显微镜（TEM）观察到一个样品的薄区域，图像显示该区域存在细小的孔洞结构。请分析可能存在哪些原因导致这种