考察品质主管数据分析与统计过程控制SPC知识的面试题_Interview_Questions_Examining_Quality_Supervisors_Data_Analysis_and_SPC_Knowledge.docxVIP

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考察品质主管数据分析与统计过程控制SPC知识的面试题InterviewQuestionsExaminingQualitySupervisorsDataAnalysisandSPCKnowledge

面试题：品质主管数据分析与统计过程控制(SPC)知识考察

一、单选题（共10题，每题2分，共20分）

1.在SPC中，控制图的核心目的是什么？

A.预测未来质量趋势

B.发现过程异常波动

C.规范操作流程

D.计算过程能力指数

2.当控制图上的点连续9点在中心线一侧时，应判断为异常，对吗？

A.正确

B.错误（需结合标准判断）

3.计算过程能力指数(Cp)时，公式中的σ代表什么？

A.样本标准差

B.总体标准差

C.过程标准差

D.质量标准

4.假设某产品尺寸规格为100±0.5mm，若过程标准差σ=0.2mm，其Cpk值约为？

A.1.0

B.1.25

C.1.5

D.0.8

5.以下哪种情况会导致控制图产生“假警报”？

A.过程稳定但点子频繁跨越控制线

B.过程异常但点子始终在控制范围内

C.样本量过小导致波动放大

D.中心线设置不合理

6.均值-极差控制图（X-R图）适用于哪种类型数据？

A.计量值（连续型）

B.计数值（离散型）

C.定类数据

D.时间序列数据

7.在分析SPC数据时，直方图主要用于？

A.判断过程是否受控

B.识别数据分布形态

C.计算过程能力

D.发现异常点

8.当控制图显示过程已受控，但产品合格率仍低时，可能的原因是？

A.控制线设置过宽

B.中心线偏离目标值

C.样本代表性不足

D.测量系统误差

9.计算P图（不合格品率控制图）时，公式中的n代表？

A.总样本数

B.检验批次数

C.单位样本大小

D.异常点数量

10.SPC实施的首要步骤是？

A.绘制控制图

B.收集历史数据

C.确定控制界限

D.分析过程能力

二、多选题（共5题，每题3分，共15分）

1.绘制控制图时，常见的控制界限计算方法包括？

A.3σ法

B.6σ法

C.移动极差法

D.百分比法

2.以下哪些属于控制图判异规则？（可多选）

A.1点超出控制线

B.连续5点在中心线一侧

C.点子呈趋势上升或下降

D.点子出现周期性波动

3.影响过程能力指数(Cpk)的因素有哪些？

A.过程标准差σ

B.目标值与下限之差

C.样本量大小

D.控制线宽度

4.在使用SPC分析数据时，样本量的选择需考虑？

A.过程稳定性

B.数据类型

C.统计精度要求

D.质量成本

5.以下哪些情况需要重新计算控制图？

A.过程工艺改进后

B.测量系统校准更换设备

C.样本量显著变化

D.数据收集时间跨度超过1年

三、判断题（共5题，每题2分，共10分）

1.控制图上的点子全部受控，意味着产品100%合格。（×）

2.线内质量控制（in-control）等同于过程能力满足要求。（×）

3.均值-标准差控制图（X-s图）比均值-极差控制图更精确。（√）

4.当P图显示异常时，应优先检查抽样方法是否合理。（√）

5.SPC只适用于制造业，服务业不适用。（×）

四、简答题（共3题，每题5分，共15分）

1.简述控制图“异常波动”的常见类型及原因。

2.如何区分“特殊原因”和“普通原因”波动？

3.SPC实施中，如何确定合理的样本量？

五、计算题（共2题，每题10分，共20分）

1.某零件尺寸规格为50±0.3mm，随机抽取5个样本组，其均值和极差数据如下表：

|样本组|均值(μ)|极差(R)|

|--|||

|1|50.1|0.2|

|2|49.8|0.3|

|3|50.2|0.1|

|4|50.0|0.4|

|5|49.9|0.2|

假设总体标准差σ=0.15mm，计算X-R图的控制界限（α=0.0027）。

2.某生产线产品不合格品率历史数据如下：

|批次|不合格品数|样本量(n)|

|||-|

|1|3|100|

|2|5|100|

|3|2|100|

|4|7|100|

|5|4|100|

计算P图的控制界限（