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2025年拍卖师贵金属含量无损检测方法与应用专题试卷及解析

2025年拍卖师贵金属含量无损检测方法与应用专题试卷及解析

第一部分：单项选择题（共10题，每题2分）

1、在贵金属无损检测中，X射线荧光光谱法（XRF）主要利用什么原理来测定贵金属含量？

A、通过测量样品对X射线的吸收率

B、通过测量样品被激发后产生的二次X射线特征谱线

C、通过测量样品的密度差异

D、通过测量样品的导电性

【答案】B

【解析】正确答案是B。XRF的原理是利用初级X射线激发样品中的原子，使其产生特征二次X射线（荧光），通过分析这些特征谱线的能量和强度来确定元素种类和含量。A选项描述的是X射线吸收法，C选项是密度法原理，D选项是电导法原理。知识点：XRF基本原理。易错点：容易将XRF与其他X射线检测方法混淆。

2、对于表面有镀层的贵金属制品，以下哪种无损检测方法最可能给出错误的主体材质含量结果？

A、X射线荧光光谱法（XRF）

B、密度法

C、超声法

D、激光诱导击穿光谱法（LIBS）

【答案】A

【解析】正确答案是A。XRF是一种表面分析技术，其探测深度有限（通常几微米到几十微米），对于有镀层的样品，主要检测的是镀层成分，无法准确反映主体材质含量。B密度法测量整体密度，C超声法可探测内部结构，DLIBS可进行微区剥蚀分析，都能在一定程度上穿透或避开镀层影响。知识点：XRF的局限性。易错点：忽视XRF的表面分析特性。

3、在拍卖实践中，检测黄金纯度时，哪种方法因其便携性和快速性而被广泛采用，但精度相对较低？

A、火试金法

B、电感耦合等离子体质谱法（ICPMS）

C、手持式XRF分析仪

D、电子探针显微分析（EPMA）

【答案】C

【解析】正确答案是C。手持式XRF因其便携、快速、无需制样的特点，非常适合拍卖现场快速筛查，但其精度受表面状况、镀层等因素影响较大。A、B、D都是实验室高精度方法，但设备庞大或需要样品制备。知识点：不同检测方法的适用场景。易错点：将便携性与高精度等同。

4、激光诱导击穿光谱法（LIBS）在贵金属检测中的独特优势是什么？

A、可检测极低的痕量元素

B、可进行深度剖面分析

C、完全不受样品表面状态影响

D、可同时检测所有元素周期表元素

【答案】B

【解析】正确答案是B。LIBS通过激光逐层剥离样品，可实现深度剖面分析，特别适合检测镀层样品或内部成分。A选项ICPMS更优，C选项所有表面分析方法都受表面状态影响，D选项LIBS对轻元素检测能力有限。知识点：LIBS技术特点。易错点：忽视LIBS的微区破坏性（虽属无损范畴）。

5、密度法检测贵金属纯度的基本前提是？

A、样品必须是纯金属

B、样品密度与纯度呈线性关系

C、样品为均匀致密的无孔隙材料

D、样品必须为标准形状

【答案】C

【解析】正确答案是C。密度法基于阿基米德原理，要求样品密度均匀且无孔隙，否则测量结果会失真。A选项样品可以是合金，B选项密度与纯度关系可能非线性（尤其存在其他重金属时），D选项不规则形状也可测量（通过排水法）。知识点：密度法适用条件。易错点：忽视样品均匀性要求。

6、在贵金属无损检测中，基体效应主要影响哪种方法的准确性？

A、X射线荧光光谱法（XRF）

B、密度法

C、超声法

D、涡流法

【答案】A

【解析】正确答案是A。基体效应指样品中其他元素对目标元素X射线荧光的吸收或增强作用，是XRF分析中的主要干扰因素。其他方法不涉及元素间的射线相互作用。知识点：XRF的基体效应。易错点：不理解基体效应的物理本质。

7、对于古代金银币的检测，最推荐的无损方法是？

A、破坏性取样后ICPMS分析

B、手持式XRF表面扫描

C、高分辨率CT扫描

D、微区XRF结合多角度测量

【答案】D

【解析】正确答案是D。古代钱币可能存在锈蚀、不均匀等问题，微区XRF结合多点测量可获取更全面信息，同时保持无损。A破坏性不可取，B可能受表面污染影响，CT主要看内部结构而非成分。知识点：文物检测的特殊要求。易错点：忽视文物的不可再生性。

8、超声检测在贵金属制品中主要用于？

A、精确测定元素含量

B、检测内部缺陷或分层

C、鉴别贵金属真伪

D、测量表面镀层厚度

【答案】B

【解析】正确答案是B。超声法通过声波传播特性检测材料内部的不连续性，如裂纹、气孔、分层等，不直接测定化学成分。A、C、D分别是成分分析、鉴别和测厚方法。知识点：超声检测的应用范围。易错点：混淆物理检测与化学分析。

9、在拍卖行快速检测铂金饰品时，发现XRF结果异常偏低，最可能的原因是？

A、饰品为高纯度铂金

B、表面有铑镀层

C、仪器未校准

D、样品温度过高

【答案】B

【解析】正确答案是B。铂金饰品常镀铑以增强光泽，铑的X射线荧光会抑制铂的信号，导致结果偏低。A高纯度应显示正常，C仪器问题会系统偏低，D温度影响