2025年事业单位工勤技能-天津-天津无损探伤工三级(高级工)历年参考题典型考点含答案解析.docxVIP

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2025年事业单位工勤技能-天津-天津无损探伤工三级(高级工)历年参考题典型考点含答案解析

一、选择题

从给出的选项中选择正确答案(共50题)

1、在射线探伤中,以下哪种射线源具有最强的穿透能力?

A.X射线机;B.Co-60γ射线源;C.Ir-192γ射线源;D.Se-75γ射线源

【参考答案】B

【解析】Co-60释放的γ射线能量较高(1.17MeV和1.33MeV),穿透力强,适用于厚壁工件检测。Ir-192能量约0.3–0.6MeV,适用于中等厚度;Se-75能量更低,用于薄壁件;X射线机虽可调能量,但常规设备穿透力不及Co-60。因此Co-60穿透能力最强。

2、超声波探伤中,用于检测垂直于探测面缺陷最有效的波型是?

A.纵波;B.横波;C.表面波;D.板波

【参考答案】B

【解析】横波传播方向与质点振动方向垂直,可有效检测焊缝中垂直于表面的裂纹、未熔合等缺陷。纵波主要用于探测平行于探测面的分层类缺陷。表面波沿表面传播,检测表面裂纹;板波用于薄板检测。横波因折射角可调,应用更广泛。

3、下列哪种缺陷在射线底片上通常呈现为不规则的黑色斑点?

A.裂纹;B.气孔;C.夹渣;D.未焊透

【参考答案】C

【解析】夹渣在底片上表现为形状不规则、黑度不均的暗斑,边缘模糊。气孔多为圆形或椭圆形黑点;裂纹呈细长、锯齿状黑线;未焊透为连续或断续的直线状黑线。夹渣因材质密度差异形成不规则影像,易于识别。

4、超声波探伤时,探头频率提高会导致?

A.分辨力提高,穿透力下降;B.分辨力下降,穿透力提高;C.分辨力与穿透力均提高;D.分辨力与穿透力均下降

【参考答案】A

【解析】频率升高,波长变短,可分辨更小缺陷,提高分辨力。但高频声波在材料中衰减加快,穿透能力减弱。因此需根据工件厚度和检测要求选择合适频率,一般薄壁件用高频率,厚件用低频。

5、磁粉探伤适用于检测下列哪种材料的表面和近表面缺陷?

A.奥氏体不锈钢;B.铜合金;C.碳钢;D.铝合金

【参考答案】C

【解析】磁粉探伤依赖材料的铁磁性,碳钢为铁磁性材料,适合检测。奥氏体不锈钢、铜合金、铝合金为非铁磁性,不能使用磁粉法。该方法灵敏度高,适用于表面裂纹、折叠等缺陷检测。

6、在射线探伤中,像质计的主要作用是?

A.测量缺陷大小;B.评定底片影像质量;C.校准曝光时间;D.确定焦距

【参考答案】B

【解析】像质计用于评估射线照相灵敏度和影像质量,通过观察其在底片上的可辨识度判断检测能力。不能直接测量缺陷尺寸或校准参数。常用丝型或孔型像质计,是质量控制的重要工具。

7、超声波探伤中,利用始波与底波之间是否存在缺陷回波进行判断的方法称为?

A.共振法;B.穿透法;C.脉冲反射法;D.TOFD法

【参考答案】C

【解析】脉冲反射法通过发射超声脉冲,接收来自缺陷和底面的反射波,依据回波位置和幅度判断缺陷。始波后出现缺陷波,底波减弱或消失。该法应用广泛,操作简便,适合手工检测。

8、渗透探伤中,适用于检测非多孔性金属材料表面开口缺陷的方法是?

A.磁粉法;B.荧光法;C.超声法;D.射线法

【参考答案】B

【解析】荧光渗透法利用毛细作用使渗透液进入表面开口缺陷,清洗后施加显像剂,缺陷处发出荧光。适用于所有非多孔性材料,灵敏度高,特别适合复杂形状工件表面裂纹检测。

9、以下哪种情况可能导致射线底片黑度过高?

A.曝光时间过短;B.管电压过低;C.显影时间过长;D.增感屏损坏

【参考答案】C

【解析】显影时间过长会导致银盐过度还原,底片黑度过大,影响对比度。曝光不足或管电压低会导致黑度不足;增感屏损坏则产生伪像。正确控制显影时间是保证底片质量的关键。

10、超声波探伤中,斜探头的斜楔主要作用是?

A.保护晶片;B.实现波型转换;C.提高灵敏度;D.减少衰减

【参考答案】B

【解析】斜楔使纵波以一定角度入射工件,在界面发生波型转换,产生横波或表面波。通常用于焊缝检测。斜楔材料耐磨、声速匹配,确保折射角准确,是实现横波检测的关键部件。

11、下列哪种缺陷在射线底片上表现为细长、弯曲的黑色线条?

A.气孔;B.夹渣;C.裂纹;D.未熔合

【参考答案】C

【解析】裂纹因自身缝隙大、透射射线多,在底片上呈细长、锯齿状或波浪形黑线,边缘清晰。气孔为圆形黑点,夹渣为不规则暗斑,未熔合多为直线状但较宽。裂纹危害大,需重点识别。

12、磁粉探伤中,交流电相比直流电的优点是?

A.检测深度更大;B.易于退磁;C.灵敏度更高;D.设备成本低

【参考答案】B

【解析】交流电具有集肤效应,检测表面缺陷灵敏度高,且磁场易衰减,退磁方便。直流电磁化深度大,适合近表面缺陷,但退磁困难。交流电设备轻便,常用于常规检测。

13、超声波探伤中,CSK-IA试块主要用于?

A.校准灵敏度;B.测定分辨率;C.调节扫描速度和校准探头K值

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