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芯片测试工程师常见面试题及答案解析.docx

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    芯片测试工程师常见面试题及答案解析

    一、选择题（共5题，每题2分，共10分）

    1.单选题：在芯片测试过程中，以下哪项是静态测试的主要目的？

    A.检查芯片在不同温度下的性能稳定性

    B.发现芯片在静态工作状态下的逻辑错误

    C.测试芯片的功耗消耗

    D.验证芯片的时序特性

    2.单选题：以下哪种测试方法通常用于验证存储芯片的读写寿命？

    A.边缘扫描测试（BoundaryScanTest）

    B.压力测试（StressTest）

    C.存储寿命测试（EnduranceTest）

    D.老化测试（Burn-inTest）

    3.单选

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