基于BIST的嵌入式存储器可测性设计的深度剖析与优化策略.docxVIP

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2025-11-22 发布于上海
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基于BIST的嵌入式存储器可测性设计的深度剖析与优化策略

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代，集成电路技术持续飞速发展，嵌入式存储器作为现代芯片的关键组成部分，其重要地位愈发凸显。从日常使用的智能手机、平板电脑，到工业控制领域的各类设备，再到高端的航空航天系统，嵌入式存储器广泛应用于众多电子产品之中，承担着数据存储与读取的关键任务，其性能优劣直接关乎整个芯片乃至系统的运行表现。

随着芯片集成度遵循摩尔定律不断提升，嵌入式存储器在芯片面积中所占的比例日益增大。在许多系统级芯片（SoC）中，嵌入式存储器甚至占据了芯片大部分面积。与此同时，存储器单元密度的不断提高，使得嵌入式存储器