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2025年spc考试试题及答案

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.以下关于控制图的描述中，错误的是（）。

A.均值-极差图（X?-R）属于计量型控制图

B.p图适用于不合格品率的监控，要求子组大小相同

C.单值-移动极差图（X-MR）适用于抽样成本高或数据获取困难的场景

D.控制图的中心线（CL）通常取过程数据的均值

2.某过程的规格限为LSL=10mm，USL=20mm，过程均值μ=15mm，标准差σ=2mm，则过程能力指数Cp为（）。

A.0.83B.1.0C.1.25D.1.67

3.控制图判异准则中，“连续9点落在中心线同一侧”对应的是（）。

A.小概率事件原理，违反正态分布对称性

B.过程均值发生偏移的信号

C.过程标准差增大的信号

D.数据分层错误的表现

4.以下哪项不是过程能力分析的前提条件？（）

A.过程处于统计控制状态

B.数据服从正态分布（或近似正态）

C.规格限已明确且合理

D.过程输出必须完全在规格限内

5.某工序用X?-R图监控，收集25组数据，每组5个样本，计算得X?总=120，R?=8，已知n=5时，A2=0.577，D4=2.114，D3=0，则X?图的控制上限（UCL）为（）。

A.120+0.577×8=124.616

B.120/25+0.577×8=4.8+4.616=9.416

C.120/25+2.114×8=4.8+16.912=21.712

D.120+2.114×8=136.912

6.关于不合格品率控制图（p图），以下说法正确的是（）。

A.子组大小必须固定，否则需使用np图

B.控制限计算公式为p?±3√[p?(1-p?)/n]，其中p?为平均不合格品率

C.当子组大小n变化时，控制限保持不变

D.适用于监控单位产品上的缺陷数

7.过程能力指数Cpk=1.33时，通常认为过程能力（）。

A.不足，需立即改进

B.充分，可适当放宽监控

C.过剩，需降低成本

D.临界，需密切关注

8.某过程数据经检验不服从正态分布，最合理的处理方式是（）。

A.直接计算Cp、Cpk，结果可能不准确但可参考

B.进行数据变换（如对数变换）使其近似正态，再分析

C.改用计数型控制图监控

D.判定过程失控，必须调整设备

9.控制图中出现“连续6点递增”的模式，最可能的原因是（）。

A.工具磨损导致过程均值逐渐上升

B.原材料批次波动

C.测量系统误差

D.随机干扰

10.以下关于短期过程能力（Pp、Ppk）和长期过程能力（Cp、Cpk）的描述，错误的是（）。

A.Pp不考虑过程是否处于统计控制状态，Ppk考虑过程偏移

B.Cp/Cpk基于稳态过程数据，反映过程固有能力

C.长期过程能力通常小于短期过程能力

D.企业应优先关注长期过程能力以评估实际质量表现

二、简答题（每题8分，共24分）

1.简述计量型控制图与计数型控制图的主要区别，各举2例说明适用场景。

2.控制图的“判异准则”基于哪些统计学原理？列举3条常用判异准则并解释其含义。

3.过程能力分析中，为何需要先确认过程处于统计控制状态？若过程失控，直接计算Cp、Cpk会导致什么问题？

三、计算题（每题15分，共30分）

1.某电子元件厂用X?-R图监控电阻值（单位：Ω），收集20组数据（每组4个样本），计算得总均值X?总=105Ω，平均极差R?=3Ω。已知n=4时，A2=0.729，D3=0，D4=2.282。

（1）计算X?图和R图的控制限；

（2）若某新样本组的均值为110Ω，极差为5Ω，判断该组是否异常，说明理由。

2.某食品厂生产饼干，重量规格限为（28±3）g（即LSL=25g，USL=31g）。随机抽取100个样本，测得重量均值μ=28.5g，标准差σ=1.2g（基于稳态过程数据）。

（1）计算过程能力指数Cp、Cpk；

（2）若规格限调整为LSL=26g，USL=30g，其他条件不变，重新计算Cpk，并分析调整后过程能力的变化。

四、案例分析题（26分）

某汽车零部件厂生产发动机螺栓，关键质量特性为螺纹直径（规格限：6.00±0.05mm，即LSL=5.95mm，USL=6.05mm）。工艺部门使用X?-R图监控，近期收集了30组数据（每组5个样本），部分统计结果如下：

X?总=6.02mm（总均值）

R?=0.03mm（平均极