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三维非接触光学测头技术：原理、应用与展望

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代工业生产和科研领域中，精确获取物体的三维几何信息至关重要，它是实现产品设计、制造、检测以及科学研究的基础。传统的接触式测量技术，如三坐标测量机，虽能实现高精度测量，但存在测量速度慢、对被测物体表面有损伤、测量力易引入误差以及难以测量复杂形状和柔软物体等局限，已无法满足现代工业对高精度、高效率测量的需求。在此背景下，三维非接触光学测头技术应运而生，并迅速发展成为测量领域的研究热点。

三维非接触光学测头技术利用光学原理，通过发射光源（如激光、结构光等）照射被测物体，再由相应的传感器（如CCD、CMOS相机等）接收