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2025年晶体学期末考试卷及答案

一、单项选择题（每题2分，共10题）

1.晶体中最基本的重复单元是

A.晶胞

B.晶粒

C.晶面

D.晶向

答案：A

2.下列哪种晶体结构属于密排六方结构？

A.面心立方

B.体心立方

C.密排六方

D.金刚石

答案：C

3.晶体中的滑移系统通常由什么决定？

A.晶面指数

B.晶向指数

C.晶面和晶向的组合

D.晶体的对称性

答案：C

4.晶体缺陷中，点缺陷不包括

A.空位

B.位错

C.置换原子

D.分数位错

答案：B

5.晶体衍射实验中，布拉格方程为

A.nλ=2dsinθ

B.nλ=2dcosθ

C.nλ=dsinθ

D.nλ=dcosθ

答案：A

6.晶体的晶格常数是指

A.晶胞的边长

B.晶胞的对角线长

C.晶胞的体积

D.晶胞的表面积

答案：A

7.晶体中的孪晶结构是由

A.同一晶体的不同部分沿特定晶面重合

B.不同晶体的晶粒沿特定晶面重合

C.晶粒的位向不同

D.晶胞的排列不同

答案：A

8.晶体塑性变形的主要机制是

A.滑移

B.孪生

C.扩散

D.相变

答案：A

9.晶体中的杂质可以

A.提高晶体的熔点

B.降低晶体的熔点

C.对晶体的熔点无影响

D.使晶体的熔点不确定

答案：B

10.晶体衍射实验中，劳厄方程描述的是

A.单色X射线与晶体相互作用的关系

B.多色X射线与晶体相互作用的关系

C.电子束与晶体相互作用的关系

D.中子束与晶体相互作用的关系

答案：A

二、多项选择题（每题2分，共10题）

1.晶体的基本性质包括

A.各向异性

B.各向同性

C.对称性

D.晶格常数

答案：A,C,D

2.晶体缺陷的类型包括

A.点缺陷

B.线缺陷

C.面缺陷

D.体缺陷

答案：A,B,C,D

3.晶体衍射实验中，常用的光源包括

A.X射线

B.电子束

C.中子束

D.光子束

答案：A,B,C

4.晶体的对称操作包括

A.平移

B.反射

C.旋转

D.反演

答案：B,C,D

5.晶体塑性变形的机制包括

A.滑移

B.孪生

C.扩散

D.相变

答案：A,B

6.晶体中的杂质可以

A.改变晶体的电学性质

B.改变晶体的光学性质

C.改变晶体的力学性质

D.改变晶体的热学性质

答案：A,B,C,D

7.晶体衍射实验中，常用的仪器包括

A.劳厄相机

B.布拉格衍射仪

C.菲涅尔衍射仪

D.电子显微镜

答案：A,B,D

8.晶体的基本结构类型包括

A.简单立方

B.面心立方

C.体心立方

D.密排六方

答案：A,B,C,D

9.晶体中的缺陷可以

A.影响晶体的力学性能

B.影响晶体的电学性能

C.影响晶体的光学性能

D.影响晶体的热学性能

答案：A,B,C,D

10.晶体衍射实验中，常用的指标包括

A.晶面指数

B.晶向指数

C.布拉格角

D.劳厄指数

答案：A,B,C,D

三、判断题（每题2分，共10题）

1.晶体的晶格常数是固定的。

答案：正确

2.晶体缺陷可以提高晶体的强度。

答案：正确

3.晶体衍射实验中，布拉格方程和劳厄方程是等价的。

答案：错误

4.晶体的塑性变形是不可逆的。

答案：正确

5.晶体中的杂质可以提高晶体的熔点。

答案：错误

6.晶体的对称操作包括平移。

答案：错误

7.晶体衍射实验中，常用的光源是X射线。

答案：正确

8.晶体的基本结构类型包括简单立方、面心立方、体心立方和密排六方。

答案：正确

9.晶体中的缺陷可以影响晶体的力学、电学、光学和热学性能。

答案：正确

10.晶体衍射实验中，常用的指标包括晶面指数、晶向指数、布拉格角和劳厄指数。

答案：正确

四、简答题（每题5分，共4题）

1.简述晶体滑移系统的概念及其在晶体塑性变形中的作用。

答案：晶体滑移系统是指晶体中滑移发生的晶面和晶向的组合。滑移系统在晶体塑性变形中起着主导作用，通过滑移系统的操作，晶体可以在外力作用下发生塑性变形。滑移系统的存在使得晶体可以在较低的外力下发生变形，从而提高了晶体的延展性。

2.简述晶体缺陷对晶体性能的影响。

答案：晶体缺陷对晶体性能有显著影响。点缺陷可以提高晶体的扩散速率和电导率，线缺陷和面缺陷可以提高晶体的强度和硬度，体缺陷可以改变晶体的密度和热膨胀系数。此外，晶体缺陷还可以影响晶体的光学和磁性等性能。

3.简述晶体衍射实验的基本原理。

答案：晶体衍射实验的基本原理是利用单色X射线、电子束或中子束与晶体相互作用，通过观察衍射图样来研究晶体的结构。当入射束与晶体中的原子相互作用时，会