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无损检测UT一级考试习题及答案

一、选择题

1.超声波在介质中传播时，遇到不同介质的界面会发生（）。

A.反射

B.折射

C.透射

D.以上都是

答案：D

解析：当超声波在介质中传播遇到不同介质界面时，一部分超声波会被反射回来，一部分会发生折射进入另一种介质，同时也存在透射现象，所以以上三种情况都会发生。

2.超声波探伤中，常用的耦合剂有（）。

A.水

B.机油

C.甘油

D.以上都是

答案：D

解析：水、机油、甘油都可以作为超声波探伤的耦合剂。水来源广泛、成本低；机油具有一定的润滑性和较好的耦合效果；甘油耦合性能良好且对工件腐蚀性小，所以以上选项都常用。

3.超声波探伤仪的垂直线性是指（）。

A.探伤仪荧光屏上显示的回波高度与探头接收的信号幅度成正比关系

B.探伤仪荧光屏上显示的回波宽度与探头接收的信号幅度成正比关系

C.探伤仪荧光屏上显示的回波高度与探头接收的信号频率成正比关系

D.探伤仪荧光屏上显示的回波宽度与探头接收的信号频率成正比关系

答案：A

解析：垂直线性是指探伤仪荧光屏上显示的回波高度与探头接收的信号幅度成正比关系。良好的垂直线性可以保证探伤仪准确地显示缺陷回波的大小，从而更准确地评估缺陷的情况。

4.超声波在钢中的纵波声速约为（）m/s。

A.3230

B.5900

C.6250

D.1480

答案：B

解析：超声波在钢中的纵波声速约为5900m/s，这是一个常见的声学参数，在超声波探伤等无损检测应用中经常会用到。

5.超声波探伤中，晶片尺寸增大，近场区长度（）。

A.增大

B.减小

C.不变

D.不确定

答案：A

解析：根据近场区长度的计算公式，晶片尺寸增大时，近场区长度会增大。近场区长度对探伤结果有一定影响，在探伤时需要考虑其范围。

6.以下哪种缺陷可能在超声波探伤中产生迟到波（）。

A.气孔

B.裂纹

C.夹渣

D.大平底

答案：B

解析：迟到波是指在超声波探伤中，由于缺陷的特殊形状或位置等原因，使得超声波传播路径发生变化，导致回波延迟出现的现象。裂纹这种缺陷可能会使超声波产生复杂的传播路径，从而产生迟到波。而气孔、夹渣等缺陷一般不会产生典型的迟到波现象，大平底是一种规则的反射体，也不会产生迟到波。

7.超声波探伤中，调节探伤仪的增益旋钮，是为了改变（）。

A.超声波的发射强度

B.超声波的频率

C.探伤仪接收信号的放大倍数

D.超声波的传播速度

答案：C

解析：增益旋钮主要是调节探伤仪接收信号的放大倍数。通过调节增益，可以使探伤仪荧光屏上的回波信号达到合适的高度，便于观察和分析缺陷情况。它并不改变超声波的发射强度、频率和传播速度。

8.用2.5MHz、φ20mm的直探头对钢材进行探伤，钢材中纵波波长约为（）mm。（钢中纵波声速取5900m/s）

A.2.36

B.0.43

C.1.18

D.4.72

答案：A

解析：根据波长计算公式λ=c/f（其中λ为波长，c为声速，f为频率），已知钢中纵波声速c=5900m/s=5900000mm/s，频率f=2.5MHz=2500000Hz，代入公式可得λ=5900000÷2500000=2.36mm。

9.超声波探伤中，当缺陷的取向与超声波传播方向（）时，缺陷回波最高。

A.平行

B.垂直

C.成45°角

D.成60°角

答案：B

解析：当缺陷的取向与超声波传播方向垂直时，超声波能够最大程度地被缺陷反射回来，从而使缺陷回波最高。如果缺陷取向与超声波传播方向平行，可能会出现漏检情况；成一定角度时，回波高度会相对降低。

10.超声波探伤仪的水平线性是指（）。

A.探伤仪荧光屏上显示的回波水平位置与探头接收的信号时间成正比关系

B.探伤仪荧光屏上显示的回波水平宽度与探头接收的信号时间成正比关系

C.探伤仪荧光屏上显示的回波水平位置与探头接收的信号幅度成正比关系

D.探伤仪荧光屏上显示的回波水平宽度与探头接收的信号幅度成正比关系

答案：A

解析：水平线性是指探伤仪荧光屏上显示的回波水平位置与探头接收的信号时间成正比关系。良好的水平线性可以保证准确地测量缺陷的位置。

11.超声波在介质中传播时，声强与声压的平方（）。

A.成正比

B.成反比

C.无关

D.不确定

答案：A

解析：根据声强与声压的关系公式，声强与声压的平方成正比。声强是衡量超声波能量大小的一个重要参数，声压则是描述超声波传播过程中压力变化的物理量。

12.用直探头探伤时，发现一个缺陷回波，当探头左右移动时，回波高度变化不大，而前后移动时，回波高度变化明显，该缺陷的形状可能是（）。

A.球状

B.条状且与探头移动方向垂直

C.条状且与探头移动