粒度分析 小角X射线散射一般原理.pdfVIP

GB/TXXXXX—XXXX

附录A

（资料性）

一般原理

A.1资料解读

对于分散的、非相互作用的分析物，观测到的校正散射强度通过下式与颗粒散射相关：

2

（）=|（）|····················································（A.1）

式中：

散射振幅（）定义如下：

（）=（）····················································（A.2）

∫

其值取决于颗粒的形状。电子密度对比Δ（r）是散射体和基体的散射长度和电子密度之差，V是颗

2

粒的体积[14]。形状因子P（q）=F（q）包含了电子密度分布和颗粒形状的信息。

理想情况下，使用适当的参考材料或已知材料的混合物进行分辨率测试。分辨率限制因素取决于所

使用的辐射的波长、散射图可靠采样的散射角范围以及采样频率。虽然尺寸上限严格由可提取非相关信

号的采样分辨率min（Δq）决定，但在实践中（即当直通光挡光器尺寸与主光束尺寸大致匹配时），以

下近似值是合适的。

在以下情况下，可以使用在q和q之间测量的散射剖面来解析尺度范围在d和d之间的的颗粒

minmaxminmax

特征：

=2/和=2/··············································（A.3）

其中q=4π/λsin（θ）是由X射线波长定义的散射矢量的大小，2θ散射角由入射光束的方向和探测

器的观察方向定义。

挑战在于如何在不测量强直射光束的情况下达到较小的q。光束的大小、准直系统的质量以及直

min

通光挡光器的对准是决定可能的q的主要因素。

min

一般来说，所使用的SAXS仪器可能会在以下三个方面差异对数据产生显著影响：光束尺寸（光束长

度和光束宽度）、探测器串扰（点扩散函数）和波长分布。

关于光束尺寸，对于点准直仪器，通常不需要对数据进行拆解（假设是理想的圆形，非拉长点）。

因此，实验数据可以直接用于数据建模或吉尼尔分析。

当使用线准直仪器时，应该注意考虑仪器展宽的存在，如采用线准直光束时。在评估线准直测量的

实验数据时，建议只使用能够处理特定仪器条件的评价软件。有两种方法可以满足这些要求，包括：

a)实验数据的解模糊处理；

b)理论拟合函数的模糊处理。

这两种方法通常都是可行的，但本文件推荐使用第二种方法，因为它更可靠。

本文件不包括小角中子散射，但可以在以下条件下不受限制地使用：

a)如果是根据原子核的散射长度密度而不是电子密度来区分两相，以及；

b)如果在评估过程中包含了通常的波长分布宽度Δλ/λ，约为0.1。

A.2根据吉尼尔曲线计算回转半径

回转半径定义为颗粒中所有电子到其电子分布重心的距离的均方根。

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