真空镀膜技术 第13章:薄膜的结构与缺陷.pptx

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薄膜的结构与缺陷;薄膜结构决定性能;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;;入射电子;各种信息的作用深度;扫描电子显微镜(ScanningElectronMicroscope(SEM))分析;扫描电镜成像示意图;形貌衬度原理;;XPS的仪器;XPS的仪器;1电磁波使内层电子激发,并逸出表面成为光电子,测量被激发的电子能量就得到XPS,不同元素种类、不同元素价态、不同电子层(1s,2s,2p等)所产生的XPS不同。;3元素不同,其特征的电子键能不同。测量电子动能KE,就得到对应每种元素的一系列BE-光电子能谱,就得到电子键能数据。;XPS(X射

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