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K值优率下降总结报告

PreliminarysummaryF4#配方用量在CE产品正极中占比大于50%几乎所有用F4#的产品（30个左右）从2月底开始陆续出现K值优率大幅下降（单电芯到80%-90%，NB到60%-80%），总的成品电芯KNG预计接近2.5MK值大的电芯FA显示阳极表面plating的Cu/Zn导致K值变差ATL内部物料与工序排查表明F4#的正极粉料（BD910H）是最大嫌疑（其他正极没有问题，BD981正在确认中）供应商仍找不到根本原因，ATL的止血措施（3-4月）：单电芯：放宽K值规格，用LC800D替代NB：用XD20A替代挽救和riskassessment相