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深度解析(2026)《GBT 19403.1-2003半导体器件 集成电路 第11部分第1篇半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)》.pptxVIP

深度解析(2026)《GBT 19403.1-2003半导体器件 集成电路 第11部分第1篇半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)》.pptx

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    ;目录;;半导体集成电路内部目检的质量管控定位;（二）GB/T19403.1-2003的核心价值体现;（三）内部目检与后续检测环节的逻辑关联;;标准适用的产品类型与范围;（二）明确排除的产品类型及原因分析;;;;;;;光学系统的核心技术参数要求;;（三）辅助工具的配备与使用规范;;芯片本体的目检要点与缺陷识别;（二）引线键合区域的检测重点与判定标准;（三）封装内部及基板的目检内容与方法;;缺陷的分级标准与分类说明

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