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2025 年大学微电子学（集成电路测试）期中考核卷.docVIP

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  • 2025-12-10 发布于天津
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2025 年大学微电子学（集成电路测试）期中考核卷.doc

    2025年大学微电子学（集成电路测试）期中考核卷

    （考试时间：90分钟满分100分）班级______姓名______

    一、选择题（总共10题，每题3分，每题只有一个正确答案，请将正确答案填入括号内）

    1.集成电路测试中，以下哪种测试方法主要用于检测芯片的功能是否正常？（）

    A.直流参数测试B.交流参数测试C.功能测试D.可靠性测试

    2.对于CMOS集成电路，其静态功耗主要取决于（）。

    A.电源电压B.工作频率C.工艺尺寸D.负载电容

    3.在集成电路测试中，为了提高测试效率，通常会采用（）。

    A.并

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