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基于GPIB接口的高性能模块芯片直流测试系统的创新开发与应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子技术领域，高性能模块芯片作为核心部件，广泛应用于通信、计算机、航空航天等诸多关键行业，其性能优劣直接决定了相关电子设备的整体效能与可靠性。对高性能模块芯片进行全面且精准的直流测试，是确保芯片质量、保障其在复杂应用场景下稳定运行的关键环节。准确的直流测试能够有效检测出芯片潜在的电气性能缺陷，诸如漏电流过大、电压偏移超出允许范围等问题，从而在芯片生产过程中，通过筛选次品，显著提升产品的良品率，降低因芯片故障导致的设备整体故障率，为后续电子设备的稳定运行奠定坚实基础。

GPIB（General