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数字集成电路自动测试硬件技术：演进、挑战与突破

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子领域中，数字集成电路（DigitalIntegratedCircuit，DIC）占据着核心地位。从日常使用的智能手机、平板电脑，到高性能的计算机、通信基站，再到工业控制中的自动化设备、航空航天的精密系统，数字集成电路无处不在，是实现各种电子设备功能的关键部件。其通过将数百万甚至数十亿个电子元件，如晶体管、二极管等，集成在一块半导体晶片上，实现了数字逻辑功能、存储功能以及数字信号处理功能，具有高速、稳定、可靠、集成度高等显著特点。

随着现代自动化、信息化技术的迅猛发展，数字集成电路的应用场景不断拓