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轻小型化超光谱成像仪：技术演进、挑战与突破

一、引言

1.1研究背景与意义

超光谱成像仪作为光谱成像技术的重要成果，在近几十年取得了显著的发展。其发展历程可追溯到20世纪80年代，1983年美国喷气推进实验室（JPL）研制出第一台成像光谱仪（AIS-I），开启了超光谱成像探测技术的先河。此后，成像光谱的研究日益活跃，从第一代AIS的32个连续波段，到第二代航空可见光/近红外成像光谱仪（AVIRIS）的224个波段，光谱分辨率不断提高，AVIRIS更是首次测量全反射波长范围（0.4～2.5μm）的成像光谱仪，这一技术的发展，使得对物质的探测和识别能力得到了极大提升