红外热成像无损检测系统锁相热激励源的研制.pdfVIP

第38卷第10期自动化仪表Vol．38No．10

2017年10月PROCESSAUTOMATIONINSTRUMENTATIONOct.2017

红外热成像无损检测系统锁相热激励源的研制

11,21

李浩然,朱玉玉,武丽

(1.西南科技大学信息工程学院,四川绵阳621010;

2.电子科技大学自动化工程学院,四川成都611731)

摘要:近年来,我国航空航天、车辆工程及船舶制造业发展迅速,对产品加工工艺及性能指标的要求不断提高。无损检测(NDT)技

术也因此越来越受到重视。其中,红外热成像(IRT)无损检测技术作为潜力巨大的无损检测与评估技术,正受到广泛关注。传统的锁

相热激励源(ES)由于输出功率低、锁相频率不可调,导致红外热像仪采集不清晰、图像分析效果不理想,很多产品已不能满足后级系

统对光照强度的要求。通过对光锁相热成像(LIT)需求的分析,从电力电子的角度入手,采用功率器件搭建创新型拓扑,设计了一种

最大输出交流电压250V、电流10A的新型大功率红外热成像(ITI)检测热激励源。详细叙述了该锁相热成像激励源的构成、参数计

算及工作过程、原理,并通过试验对其进行了测试和验证。将该大功率激励源应用于红外热成像无损检测领域,降低了后级系统对时

序热波信号进行数据采集的难度,有利于对缺陷进行更精确的分析。后期将实现系统多级并联,使其输出更高功率,满足红外热成像

无损检测系统对更大功率激励源的需求。

关键词:红外热成像;无损检测;锁相热成像;激励源;FPGA;桥式电路;大功率;频率可调

中图分类号:TH89;TP23文献标志码:ADOI:10.16086/ki.issn1000-0380.201710022

StudyandDevelopmentofLock-inThermalExcitationSource

forInfraredThermographyNondestructiveTestingSystem

11,21

LIHaoran,ZHUYuyu,WULi

(1.SchoolofInformationEngineering,SouthwestUniversityofScienceandTechnology,Mianyang621010,China;

2.SchoolofAutomationEngineering,UniversityofElectronicScienceandTechnologyofChina,Chengdu611731,China)

Abstract:Inrecentyears,withtherapiddevelopmentofaerospace,vehicleengineeringandshipbuildingindustryinChina,the

manufacturingprocessandperformancerequirementsoftheproductshavebeencontinuouslyimproved.Non-destructivetesting

(NDT)technologyisgainingmoreandmoreattention.AsapotentialNDTandevaluationtechnology,theinfraredthermography

(IR