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关于制定《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》标准的发展报告

摘要

本报告旨在阐述制定《晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）试验方法》标准的目的、意义、范围及主要技术内容。随着光伏组件功率提升和工作温度升高，光热诱导衰减（LeTID）已成为影响光伏电站长期发电性能与投资收益的关键风险因素。当前，行业内缺乏统一的LeTID测试规范，导致测试结果可比性差，质量管理风险不一。本标准的立项旨在建立科学、统一、可复现的LeTID测试方法，以准确评估组件在高温运行条件下的衰减风险，为组件选型、电站设计、质量认证和行业技术升级提供关键依据，对推动光伏产业高质量发展具有重要的战略意义。

要点列表

1.问题识别：LeTID是导致光伏组件在炎热气候或高工作温度下发生显著功率衰减的主要机理之一，其风险随高功率组件普及而加剧。

2.行业痛点：目前国内缺乏统一的LeTID测试技术规范，各厂商测试方法不一，结果差异大，存在技术与管理风险。

3.标准目标：制定一套标准化的测试流程，包括预处理、加速诱导、性能检测等环节，以量化评估组件的LeTID敏感性。

4.核心内容：标准规定了在75℃恒温环境下，对已完成硼氧预处理（消除初始光致衰减LID影响）的组件进行弱电流电注入，模拟并加速LeTID过程，并通过IV测试、EL成像等手段精确测量其功率损失。

5.重要意义：该标准将填补国内技术空白，提升行业质量管控水平，促进技术迭代，保障光伏电站全生命周期的发电收益，支撑“双碳”目标下光伏产业的可持续发展。

目的意义

目的：

本标准的制定，首要目的是为了科学揭示和量化评估晶体硅光伏组件，特别是当前主流的高功率组件，在模拟实际高温运行工况下所面临的光热诱导衰减（LeTID）风险。传统的光致衰减（LID）测试温度较低，未能充分暴露LeTID问题。通过建立高温（如75℃）下的加速测试方法，本标准旨在为组件制造商、电站投资者、检测认证机构提供一个可靠的工具，用于筛选抗LeTID性能优异的组件产品，从而从源头降低电站的长期性能衰减风险。

意义：

1.统一行业技术规范：解决当前因测试方法、参数不统一导致的结果不可比问题，建立公平、公正的产品性能评价基准。

2.提升质量管理水平：为组件制造商提供明确的质量控制与工艺改进方向，推动产业链整体技术成熟度和可靠性提升。

3.降低投资与技术风险：帮助电站投资者和开发商更准确地预测电站长期发电量，优化投资模型，保障资产安全与收益。

4.支撑产业技术升级：标准的建立将引导研发资源投向抑制LeTID的关键材料（如硅片、钝化材料）和工艺技术，促进产业结构向高效、高可靠方向调整。

5.增强国际竞争力：建立与国际先进水平接轨的测试标准，有助于中国光伏产品在国际市场上获得更广泛的技术认可与信任。

关于标准化技术委员会的介绍

标准化技术委员会是在特定专业领域内，负责国家标准、行业标准制修订工作的技术组织。在本标准制定过程中，全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会（SAC/TC90）及其下属的相关工作组将发挥核心作用。

该委员会由国家标准化管理委员会批准成立，汇聚了来自顶尖科研院所、领先制造企业、权威检测认证机构、重点高校及电站运营单位的专家。其主要职能包括：

*规划标准体系：研究并提出光伏能源系统领域国家标准和行业标准的制、修订规划与计划。

*组织标准制定：像本次LeTID试验方法标准一样，组织成员单位起草、征求意见、审查和报批具体标准。

*技术审查与咨询：对标准草案的技术内容、指标设定、试验方法的科学性与可操作性进行严格审查。

*宣贯与推广：标准发布后，组织宣贯培训，推动标准在行业内的实施与应用。

*国际对口：负责与国际电工委员会太阳能光伏能源系统技术委员会（IEC/TC82）等国际组织对口，参与国际标准制定，推动中国标准与国际标准协同。

委员会的工作确保了标准制定过程的专业性、公正性和广泛代表性，是保障本标准技术先进、适用性强、能够真正服务行业发展的关键机制。

范围和主要技术内容

范围：

本标准文件适用于地面用晶体硅光伏组件（包括单晶和多晶）的光热诱导衰减（LeTID）测试。它详细规定了测试所需的术语定义、仪器设备要求、样品准备流程、具体的测试步骤、数据处理方法以及最终测试报告应包含的内容。本标准旨在为实验室和检测机构提供一套完整、可操作的LeTID性能评估方法。

主要技术内容：

1.样品预处理：首先对组件进行标准的“硼氧预处理”（如IEC61215中所述），以消除或稳定初始光致衰减（LID），确保后续衰减主要归因于LeTID。

2.LeTID诱导阶段：将预处理后的组件置于可控的环境试验箱中，在75℃的恒定高温条件下，使用直流电源对组件施加特定的弱电流（