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5.半导体的电导率
5.1电导率的基本概念
电导率是描述材料导电能力的重要参数,定义为单位截面积下,单位长度材料在单位电场作用下通过的电流。数学上,电导率σ可以表示为:
σ
其中ρ是电阻率。在半导体中,电导率主要由载流子(电子和空穴)的浓度和迁移率决定。载流子的浓度决定了单位体积内可以参与导电的粒子数量,而迁移率则反映了这些载流子在外电场作用下的移动能力。
5.2载流子浓度的影响
在半导体中,载流子浓度是影响电导率的主要因素之一。对于本征半导体,载流子浓度主要由温度决定,而对掺杂半导体,载流子浓度还受到掺杂浓度的影响。本征半导体中的载流子浓度ni
n
其中:-Nc是有效状态密度-T是绝对温度-T0是参考温度-Eg是带隙能量-
5.2.1本征半导体的载流子浓度
在本征半导体中,电子和空穴的浓度相等,即n=
5.2.2掺杂半导体的载流子浓度
对于掺杂半导体,载流子浓度主要由掺杂剂的浓度决定。例如,对于n型半导体,主要载流子是电子,其浓度n近似等于施主掺杂剂的浓度ND。对于p型半导体,主要载流子是空穴,其浓度p近似等于受主掺杂剂的浓度N
5.3载流子迁移率的影响
载流子迁移率μ是描述载流子在外电场作用下的移动能力的参数。迁移率越大,载流子在外电场作用下的速度越快,从而电导率也越高。载流子迁移率受到多种因素的影响,包括温度、杂质浓度、晶格缺陷等。
5.3.1温度对迁移率的影响
温度对迁移率的影响主要体现在两个方面:1.晶格散射:随着温度的升高,晶格振动加剧,导致载流子与晶格的散射增多,迁移率降低。2.杂质散射:温度对杂质散射的影响较小,但在低温下,杂质散射成为主要散射机制,迁移率也受其影响。
5.3.2杂质浓度对迁移率的影响
在掺杂半导体中,杂质浓度对迁移率的影响显著。随着杂质浓度的增加,载流子与杂质的散射增多,迁移率降低。这一效应在高掺杂浓度下尤为明显。
5.4电导率的计算
电导率σ可以通过以下公式计算:
σ
其中:-q是电子电荷-n是电子浓度-μn是电子迁移率-p是空穴浓度-μp
5.4.1本征半导体的电导率
对于本征半导体,电子和空穴的浓度相等,即n=
σ
5.4.2掺杂半导体的电导率
对于n型掺杂半导体,主要载流子是电子,其电导率可以表示为:
σ
对于p型掺杂半导体,主要载流子是空穴,其电导率可以表示为:
σ
5.5电导率的测量
电导率的测量通常通过四探针法进行。四探针法可以有效排除接触电阻的影响,从而准确测量材料的电导率。
5.5.1四探针法的原理
四探针法的基本原理是通过四个探针(两个电流探针和两个电压探针)来测量样品的电阻。电流探针用于注入电流,电压探针用于测量电压降。通过测量电压和电流,可以计算出样品的电阻率和电导率。
5.5.2四探针法的测量步骤
样品准备:将半导体样品制备成标准尺寸,确保表面平整。
探针放置:将四个探针均匀放置在样品表面,确保探针与样品接触良好。
注入电流:通过电流探针注入恒定电流I。
测量电压:通过电压探针测量样品两端的电压降V。
计算电阻率:根据测量的电压和电流,计算样品的电阻率ρ。
计算电导率:根据电阻率ρ,计算电导率σ。
5.6电导率的温度依赖性
半导体的电导率随温度的变化而变化。对于本征半导体,电导率随温度的升高而增加,而对于掺杂半导体,电导率在一定范围内随温度的升高而增加,但超过一定温度后,电导率会因迁移率的降低而减少。
5.6.1本征半导体的温度依赖性
本征半导体的电导率σi随温度T
σ
5.6.2掺杂半导体的温度依赖性
对于n型掺杂半导体,电导率σn随温度T
σ
对于p型掺杂半导体,电导率σp随温度T
σ
5.7电导率的仿真模拟
在电子科学与技术领域,仿真模拟是研究半导体材料特性的有效工具。通过仿真软件,可以模拟不同条件下的电导率变化,从而更好地理解半导体材料的行为。
5.7.1仿真软件介绍
常用的仿真软件包括SilvacoAtlas、SentaurusDevice等。这些软件提供了丰富的物理模型和数值方法,可以模拟半导体器件的电导率、迁移率等特性。
5.7.2仿真示例
5.7.2.1本征半导体电导率的仿真
使用SilvacoAtlas软件,可以模拟本征半导体的电导率随温度的变化。以下是一个简单的仿真示例:
#导入SilvacoAtlas库
fromsilvaco.atlasimportatlas
#定义材料参数
Nc=2.8e19#有效状态密度(cm^-3)
T0=300#参考温度(K)
Eg=1.12#带
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