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半导体器件仿真：双极型晶体管仿真_12.双极型晶体管的失效模式与可靠性仿真.docx

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    12.双极型晶体管的失效模式与可靠性仿真

    12.1双极型晶体管的常见失效模式

    在半导体器件的使用过程中，双极型晶体管（BipolarJunctionTransistor,BJT）可能会因为各种原因而失效。了解这些失效模式对于提高器件的可靠性和设计更耐用的电路至关重要。常见的双极型晶体管失效模式包括：

    12.1.1过热失效

    过热是双极型晶体管最常见的失效模式之一。当晶体管的温度超过其最大允许值时，可能会导致内部结构的损伤或性能的下降。过热的原因通常包括：

    高功耗：晶体管在高功率条件下工作时，发热量增加，可能导致过热。

    散热不良：散热设计不当或散

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